低温下体积电阻率：测量材料在低温条件下单位体积内的直流电阻，反映其绝缘能力的基本参数。
低温下表面电阻率：评估材料表面在低温环境下的漏电电流抵抗能力，关乎表面绝缘性能。
低温介电常数：测定材料在低温及交变电场中储存电荷能力的物理量，影响电容器的设计与性能。
低温介质损耗因数（tanδ）：衡量绝缘材料在低温交变电场中能量损耗程度，是评价介电品质的关键指标。
低温电气强度（击穿场强）：测试材料在低温下能承受的最高电场强度而不被击穿，是绝缘安全性的核心指标。
低温耐电弧性：评估材料在低温环境下表面抵抗电弧作用的能力，反映其抗高温电弧侵蚀的稳定性。
低温相比电痕化指数（JianCe）：测定材料表面在低温、潮湿和污染物共同作用下抵抗形成漏电痕迹的能力。
低温绝缘电阻：在规定的低温条件下，测量施加直流电压时绝缘材料的电阻值。
低温局部放电起始电压与熄灭电压：检测材料在低温下内部或表面开始发生局部放电及放电熄灭时的电压阈值。
低温电荷载流子迁移率：研究在低温电场作用下，绝缘材料内部可移动电荷的迁移速率，关联于导电机制。
聚合物薄膜：如聚酰亚胺（PI）、聚酯（PET）、聚丙烯（PP）等，广泛应用于电容器和绕组绝缘。
层压制品与复合材料：包括环氧层压板、有机硅云母板等，用于电机槽绝缘和结构件。
浸渍漆和覆盖漆：各类有溶剂、无溶剂浸渍树脂及表面漆，用于绕组浸渍处理和表面防护。
橡胶与弹性体：如硅橡胶、乙丙橡胶等，常用于电缆终端、接头的绝缘与密封。
浇注与包封材料：环氧树脂、聚氨酯等浇注胶，用于电子元器件的绝缘封装。
云母及制品：天然云母、合成云母纸及其制品，具有优良的耐高温和电气性能。
电工塑料：如聚酰胺（尼龙）、聚碳酸酯（PC）等，用于制造各种绝缘零件和外壳。
绝缘纸与柔软复合材料：包括绝缘皱纹纸、DMD等，常用于变压器和电机的匝间绝缘。
陶瓷绝缘材料：如氧化铝陶瓷等，用于高压、高频及极端温度环境下的绝缘部件。
新型纳米复合绝缘材料：通过添加纳米粒子改性的聚合物基复合材料，旨在提升综合性能。
低温环境箱法：将试样与测试电极置于可精确控温的低温环境箱内进行各项电气测试。
直接浸渍法：将试样直接浸入低温液体介质（如液氮）中，快速达到测试温度并进行测量。
冷指法：使用特定的冷却探头（冷指）直接接触试样局部，使其降温，适用于局部性能测试。
两步法测试：先将试样在低温环境中处理（预处理）规定时间，再取出在规定时间内完成电气测试。
高阻计法：在低温环境下，使用高阻计测量材料的体积电阻率和表面电阻率。
西林电桥法：采用高压西林电桥或自动平衡电桥，在低温下精确测量介电常数和介质损耗因数。
逐步升压法：在低温条件下，对试样施加逐步升高的电压直至击穿，用以测定电气强度。
标准电极法：使用标准规定的电极系统和安装方式，确保低温下接触可靠，测试结果可比。
电荷-放电电流分析法：通过测量低温下的充电和放电电流曲线，研究材料的极化与电导特性。
局部放电检测法：在低温密闭腔体内，利用脉冲电流或超声波传感器检测材料的局部放电信号。
高低温交变湿热试验箱：提供精确可控的低温测试环境，温度范围通常可低至-70℃或更低。
低温液体容器（杜瓦瓶）：盛放液氮、液氦等低温介质，用于直接浸渍法测试。
高绝缘电阻测试仪（高阻计）：用于测量低温环境下材料的超高电阻和电阻率。
高压介电谱分析仪：可在宽温域（含低温）和频率范围内测量介电常数与损耗。
自动击穿电压测试仪：集成高压发生、步进升压和击穿判断，配备低温测试腔体。
精密高压西林电桥：用于低温条件下介电参数的高精度测量，尤其适用于低频范围。
局部放电检测系统：包含耦合电容、检测阻抗和PD分析仪，需适配低温测试环境。
低温专用测试电极：采用低热膨胀系数材料制成，确保在低温下与试样接触良好且不变形。
低温温度传感器与监控系统：如铂电阻（Pt100）或热电偶，实时精确监测试样及环境温度。
真空低温腔体：用于需要避免冷凝或进行极低温（如液氦温度）电气测试的特殊研究。
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