表面电阻率：测量砂浆表面两点间的电阻，评估其静电消散能力，是防静电性能的基础指标。
体积电阻率：测量材料内部的电阻，反映电荷在材料体内迁移的难易程度。
屏蔽效能（SE）：核心检测项目，定量评估材料对电磁波的衰减能力，通常以分贝（dB）表示。
衰减常数：表征电磁波在材料中传播时单位长度上的衰减量。
反射损耗：评估材料因阻抗不匹配而反射电磁波能量的能力。
吸收损耗：评估材料将电磁波能量转化为热能或其他形式能量而消耗的能力。
传输阻抗：用于评估材料对低频磁场或平面波的屏蔽效果。
静电衰减时间：测量施加的静电荷衰减到规定百分比所需的时间。
电荷半衰期：静电荷量衰减至初始值一半所需的时间，直接关联防静电性能。
屏蔽均匀性：检测砂浆表面或体积内屏蔽效能分布的均匀程度。
机房防静电地板砂浆：用于数据中心、通信机房等场所的地面找平与屏蔽层。
电子厂房地坪砂浆：应用于半导体、集成电路等精密电子制造车间的防静电地坪系统。
医疗屏蔽室砂浆：用于构建MRI室、手术室等需要电磁屏蔽的特殊医疗环境。
军工屏蔽工程砂浆：应用于指挥所、情报处理中心等需要高等级电磁防护的军事设施。
实验室特殊地面：如计量校准实验室、精密仪器实验室等对静电和电磁环境有严格要求的地面。
易燃易爆场所地面：如石油化工、火药仓库等需防止静电火花引发事故的场所。
高频设备基座与围护结构：为大型射频设备提供接地和电磁泄漏防护的砂浆基体。
轨道交通信号屏蔽室：用于地铁、高铁信号系统机房，防止外部电磁干扰。
新建与改造工程：涵盖新建建筑的预设屏蔽层及旧建筑改造中的屏蔽功能升级。
砂浆原材料与配合比验证：对导电骨料（如石墨、碳纤维）、胶凝材料等配方进行效能测试与筛选。
同轴传输线法（ASTM D4935）：标准方法，使用法兰同轴夹具测量平面材料在30MHz至1.5GHz频段的屏蔽效能。
屏蔽室法（MIL-STD-285 / IEEE 299）：在大尺寸屏蔽室开口处安装试件，测量其对电磁场的衰减。
四电极法（ASTM D991）：用于精确测量橡胶、板材等材料的体积电阻率和表面电阻率。
衰减板法（波导法）：将试样置于矩形或圆形波导管中，测量特定频段（如微波频段）的传输损耗。
<强>法拉第筒法：结合静电计，用于测量材料的静电衰减时间和电荷量。
<强>三电极系统法（IEC 61340）：按照国际电工委员会标准，测量材料的电阻及相关静电参数。
<强>时域谱分析法：通过注入脉冲信号，分析材料在宽频带内的瞬态屏蔽响应特性。
<强>近场探头扫描法：使用磁场或电场探头近距离扫描砂浆表面，评估局部屏蔽缺陷和均匀性。
<强>接地电阻测量法：测量砂浆层与建筑接地系统之间的连接电阻，确保静电泄放通路有效。
<强>环境温湿度影响测试法：在不同温湿度条件下重复测试，评估环境因素对屏蔽效能的稳定性影响。
<强>矢量网络分析仪（VNA）：核心设备，用于测量S参数并计算屏蔽效能、反射损耗和吸收损耗。
<强>同轴法兰测试夹具：与VNA配套使用，用于固定片状砂浆试样并进行同轴传输线法测试。
<强>高阻计/绝缘电阻测试仪：配备三电极或四电极，用于精确测量表面及体积电阻率。
<强>静电衰减测试仪：专门用于测量静电电压衰减时间和半衰期的仪器。
<强>频谱分析仪与信号发生器：用于屏蔽室法或远场法测试中，产生信号并分析接收到的衰减信号。
<强>发射与接收天线：用于辐射式测试中，在特定距离上产生标准电磁场并接收穿透场。
<强>TEM/GTEM小室：提供标准横电磁波场，用于中小型试样的整体屏蔽效能评估。
<强>近场探头组: 包含磁环探头和电场探头，用于定位屏蔽弱点及近场扫描测试。
<强>法拉第筒与静电计: 构成电荷测量系统，用于定量分析材料的带电量与衰减过程。
<强>恒温恒湿试验箱: 用于模拟不同环境条件，测试温湿度对砂浆屏蔽性能的影响。
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