数据建立时间：指在时钟有效边沿到来之前，数据输入信号必须保持稳定的最短时间，是时序逻辑电路最关键的建立时间参数。
地址建立时间：针对存储器或地址总线接口，在读写控制信号有效前，地址信号必须提前稳定的最小时间。
控制信号建立时间：评估如片选、写使能等控制信号相对于时钟边沿所需的最小提前稳定时间。
异步复位/置位建立时间：测量异步复位或置位信号在时钟边沿前必须有效的最小时间，以确保正确的初始状态。
保持时间：虽与建立时间相对，但常一同检测，指时钟边沿后数据必须保持稳定的最短时间。
时钟到输出时间：衡量从时钟触发到输出信号有效的时间，与建立时间共同定义外部时序窗口。
输入脉冲宽度：检测特定输入信号（如复位脉冲）所需的最小高电平或低电平持续时间。
多周期路径建立时间：针对跨越多个时钟周期的数据路径，检测其特殊的、更长的建立时间要求。
不同电压域下的建立时间：在芯片的不同供电电压（如核心电压与I/O电压）条件下分别检测建立时间，评估电压变化的影响。
温度变化下的建立时间：在不同环境温度下进行建立时间检测，分析温度对芯片内部传输延迟的影响。
微处理器与微控制器：检测其外部总线接口、内存控制器等模块的地址、数据和控制信号的建立时间。
静态随机存储器：全面测试SRAM的地址建立时间、写数据建立时间以及相关控制信号的时序。
动态随机存储器接口：针对DDR系列等高速存储器接口，检测其严格的、与训练模式相关的建立/保持时间。
现场可编程门阵列：在FPGA配置完成后，对其用户自定义逻辑的输入输出时序进行建立时间验证。
专用集成电路：根据ASIC设计规范，对其所有同步输入端口进行全面的建立时间测试。
高速串行接口芯片：如SerDes，检测其并行侧数据相对于恢复时钟或内部参考时钟的建立时间。
模数/数模转换器：测试ADC数字输出就绪信号或DAC数字输入数据相对于其采样时钟的建立时间。
数字信号处理器：验证DSP外部存储器接口、数据采集端口等关键路径的建立时序。
系统级芯片：对复杂SoC中多个IP核之间的互连接口以及外部引脚进行系统级的建立时间检测。
各类标准逻辑器件：包括寄存器、锁存器、缓冲器等基础器件，验证其标称的建立时间参数。
固定时钟边沿扫描法：固定时钟边沿位置，逐步改变数据信号相对于时钟的到达时间，通过功能测试找到失效临界点。
Shmoo图分析法
自动化测试设备：是IC测试的核心平台，集成精密定时单元、驱动器和比较器，可编程生成和测量时序信号。
高性能数字测试通道：ATE中的关键子系统，提供皮秒级时序分辨率的驱动和采样能力，用于施加和捕获信号。
沟通检测需求：为精准把握客户需求，我们会仔细审核申请内容，与客户深入交流，精准识别样品类型、明确测试要求，全面收集相关信息，确保无遗漏。
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样品前处理：收到样品后，开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员，科学严谨对待每个细节，保证前处理规范准确。
试验测试：此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品，实验设计与操作均遵循科学标准，保障测试结果准确且可重复。
出具报告：测试结束立即生成详尽检测报告，经严格审核确保结果可靠准确，审核通过后交付客户。
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