
D10粒径:表示累积分布达到10%时所对应的粒径值,用于描述样品中细小颗粒的粒度特征。
D50粒径(中位径):表示累积分布达到50%时所对应的粒径值,是表征样品平均粒度的核心指标。
D90粒径:表示累积分布达到90%时所对应的粒径值,用于描述样品中大颗粒的粒度特征。
粒度分布宽度:通常通过跨度或分散指数计算,用以评价颗粒体系的均匀性或分散程度。
比表面积:基于粒度分布数据推算的单位质量颗粒的总表面积,与反应活性密切相关。
体积频率分布:不同粒径区间内颗粒体积占总体积的百分比分布,是最直观的分布图形表达。
数量频率分布:不同粒径区间内颗粒数量占总数量的百分比分布,对纳米级颗粒尤为重要。
峰值粒径:在频率分布曲线上,对应最高频率的粒径值,指示最集中的颗粒尺寸。
残留大颗粒检测:专门检测超出规格上限的大尺寸颗粒或团聚体的存在及含量。
分布模型拟合度:评估实测数据与正态分布、对数正态分布等理论模型的吻合程度。
电池级亚硫酸亚乙酯纯品:用于锂离子电池电解液添加剂的高纯度原料粉末。
工业级亚硫酸亚乙酯粗品:合成后未经深度精制的产品,粒度可能较粗且分布宽。
重结晶产物:通过结晶工艺提纯后得到的晶体粉末,关注其晶体粒度和均匀性。
研磨处理后的样品:经过机械粉碎、球磨等工艺以减小粒度的产品。
不同生产批次的样品:用于批次间质量一致性的对比与监控。
储存前后的对比样品:考察储存过程中是否因吸湿、团聚等导致粒度变化。
与其他固体添加剂混合的样品:评估混合后复合材料的整体粒度分布情况。
工艺中间体:合成过程中产生的固体中间产物,用于过程控制。
失效或变质样品:分析因降解、聚合等原因产生的不溶性物质的粒度。
竞品或对标样品:与市场上其他供应商的产品进行粒度性能比对分析。
激光衍射法:最常用的方法,基于颗粒对激光的散射角度与粒径的关系,测量范围宽、速度快。
动态光散射法:适用于纳米或亚微米级分散体系的粒度分析,通过测量布朗运动速度反演粒径。
图像分析法:通过显微镜或图像分析仪直接观测和统计颗粒的二维投影尺寸与形貌。
筛分法:传统机械筛分,适用于数十微米以上较粗颗粒的分离与重量法分布测定。
沉降法:基于斯托克斯定律,根据颗粒在液体中的沉降速度来测定粒度分布。
库尔特计数法:基于电阻变化原理,可精确测量单个颗粒的体积,得到数量分布。
超声衰减谱法:利用超声波在悬浮液中传播的衰减特性来反演粒度分布,适合高浓度浆料。
X射线衍射谱线宽化法: 间接方法,通过分析衍射峰宽化程度估算晶粒尺寸(晶粒度)。
干法分散进样: 将干燥粉末直接吸入检测区进行测量,避免溶剂影响,但需注意防团聚。
湿法分散进样: 将样品分散在合适的溶剂(如无水乙醇、异丙醇)中形成悬浮液进行测量,应用最广。
激光粒度分析仪: 执行激光衍射法的核心设备,通常包含激光器、检测器、样品池和数据处理系统。
纳米粒度及Zeta电位分析仪: 集成动态光散射技术,用于测量纳米级颗粒的粒度与表面电位。
静态图像颗粒分析系统: 由光学显微镜、自动平台和高分辨率相机及图像处理软件组成。
>标准检验筛套装<: 一套具有不同孔径规格的金属丝网筛,配合振筛机使用进行筛分分析。/p>
>离心沉降式粒度仪<: 通过离心加速沉降过程,扩展了传统重力沉降法的测量下限。/p>
>库尔特计数器<: 配备特定孔径管(小孔管),用于精确测量单个颗粒的体积和数量浓度。/p>
>超声粒度分析仪<: 集成超声传感器和反演算法,适用于在线或离线的高浓度浆料分析。/p>
>X射线衍射仪<: 用于晶粒尺寸的分析,需配合专门的谱线宽化分析软件。/p>
>干法分散进样装置<: 通常包括文丘里泵、压缩空气源、分散腔等,与激光粒度仪联用。/p>
>湿法分散进样装置<: 包括搅拌器、超声分散器、循环泵和样品池,确保悬浮液均匀稳定。/p>
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