原料药颗粒形貌观测：利用AFM直接观察盐酸普拉格雷原料药颗粒的三维立体形貌，判断其是针状、片状、块状或无定形态。
颗粒尺寸与分布分析：通过AFM扫描图像精确测量单个颗粒的粒径（长、宽、高），并统计批内颗粒的尺寸分布均匀性。
表面粗糙度定量测定：计算样品表面选定区域的算术平均粗糙度（Ra）、均方根粗糙度（Rq）等参数，评估颗粒表面的光滑或粗糙程度。
晶体结构鉴别：在纳米尺度下观察晶体生长台阶、晶面夹角等特征，辅助鉴别盐酸普拉格雷的不同晶型或多晶型现象。
微观团聚状态评估：分析初级颗粒之间的聚集或团聚方式，判断是软团聚还是硬团聚，为粉碎工艺提供依据。
表面粘附力测量：通过力-距离曲线测量探针与药物颗粒表面之间的粘附力，间接反映颗粒的表面能及可能存在的静电作用。
纳米力学性能测试：测量颗粒或晶体区域的弹性模量、硬度等力学参数，评估其机械强度与可压性。
表面电势成像：使用开尔文探针力显微镜模式，映射样品表面的局部接触电势差，分析表面电荷分布情况。
相分离与纯度检查：通过相位成像技术，基于样品表面粘弹性差异，检查药物中是否存在杂质相或辅料分布不均。
薄膜均匀性评价：对于制备在基底上的药物薄膜，评估其厚度均匀性、覆盖率以及是否存在孔洞或裂纹缺陷。
原料药粉末：直接对盐酸普拉格雷的原料药粉末进行取样分析，涵盖从微米到纳米尺度的初级粒子。
单晶样品：挑选生长良好的单晶，对其特定晶面进行高分辨率成像与力学性能表征。
微粉化后颗粒：对经过粉碎、微粉化工艺处理的药物颗粒进行检测，评估工艺对颗粒形貌和尺寸的影响。
共晶或共沉淀物：若盐酸普拉格雷形成共晶或共沉淀体系，AFM可分析其复合物的表面形貌与相结构。
载药微球表面：对于以盐酸普拉格雷为活性成分的微球制剂，可对其表面形貌和药物分布进行观察。
片剂断面微观结构：将片剂脆断或切割后，观察断面中药物的分布状态、与辅料的结合界面以及孔隙结构。
药物-聚合物薄膜：分析包含盐酸普拉格雷的缓释薄膜或涂层剂的表面形貌与相分离情况。
加速试验前后样品：对比经过高温、高湿等加速稳定性试验前后样品的微观形貌变化，评估物理稳定性。
不同批次对比样品：对不同生产批次的原料药进行AFM分析，比较其微观特性的批间一致性。
不同供应商原料：对比来自不同合成路线或供应商的原料药，从纳米尺度鉴别其物理性质的差异。
接触模式扫描：探针尖端始终与样品表面接触进行扫描，适用于表面较硬、平坦的样品形貌成像。
轻敲模式扫描：探针以共振频率振动，间歇接触样品，最常用于盐酸普拉格雷等柔软或易损样品的形貌成像，减少损伤。
峰值力轻敲模式：一种高级的轻敲模式，能同步高分辨率采集形貌、弹性、粘附力等多通道数据，对药物颗粒分析尤为有效。
力-距离曲线阵列测量：在选定区域进行网格化点阵测量，获取每一点的力曲线，从而绘制弹性模量、粘附力等性能的分布图。
开尔文探针力显微镜：通过测量探针与样品之间的静电作用力，实现表面电势或功函数的高分辨率映射。
磁力驱动交流模式：使用磁性涂层探针在磁场驱动下振动，适用于需要液体环境中成像的样品表征。
相位成像技术：在轻敲模式中记录探针振动的相位滞后信号，用于区分样品表面的不同组分或粘弹性差异。
三维图像重建与分析：基于AFM扫描获得的三维高度数据，进行三维可视化重建，并计算体积、表面积等参数。
在线溶解过程监测：在液体池中注入溶出介质，实时监测单个盐酸普拉格雷颗粒在溶液中的溶解行为和形貌变化。
纳米刻划与磨损测试：使用探针在选定区域施加较大力进行刻划，评估药物材料表面的抗磨损能力或薄膜的结合强度。
多模式原子力显微镜主机：核心设备，具备接触、轻敲、峰值力等多种扫描模式，并配备环境控制腔体。
高性能扫描器
