平均粒径（D50）：表征样品颗粒体系中，累积分布达到50%时所对应的粒径值，是描述颗粒群平均大小的核心指标。
粒径分布宽度（Span值）：通过(D90-D10)/D50计算得出，用于量化颗粒体系的粒径分散均匀程度，Span值越小分布越集中。
D10粒径：累积分布为10%时对应的粒径，代表样品中小颗粒端的临界尺寸，反映细粉含量。
D90粒径：累积分布为90%时对应的粒径，代表样品中大颗粒端的临界尺寸，反映粗颗粒含量。
粒度分布曲线：以粒径为横坐标、体积（或数量）百分比为纵坐标的连续曲线，直观展示全部粒径的分布情况。
比表面积等效粒径：根据测得的比表面积数据换算出的理论均匀球形颗粒直径，用于关联材料的表面特性。
模态粒径：在频率分布图中出现最高峰时所对应的粒径值，即最常出现的粒径。
颗粒团聚度评估：通过对比原始粉体与分散后粉体的粒度分布差异，定性或半定量评估颗粒的团聚状态。
特定区间体积占比：统计在预设粒径区间（如0-1μm, 1-10μm）内颗粒的体积占总体积的百分比。
分布模型拟合度：将实测分布数据与罗辛-拉姆勒、对数正态等理论分布模型进行拟合，以数学描述分布特征。
中熵氧化物陶瓷气凝胶粉体：如(CoCrFeNiMn)Ox等高熵体系衍生的多孔超细粉体材料。
中熵氮化物/碳化物气凝胶破碎料：由相应气凝胶块体经机械破碎后得到的微纳米级颗粒集合体。
气凝胶前驱体溶胶：凝胶化之前的溶胶体系，检测其中初级粒子或团簇的粒度分布，用于过程控制。
干燥后的气凝胶初级粒子：在超临界干燥等工艺后，构成三维网络骨架的纳米级一次粒子。
研磨处理后的气凝胶粉末：为满足成型等后续工艺，对气凝胶进行机械研磨后产生的颗粒体系。
复合气凝胶中的陶瓷相颗粒：针对中熵陶瓷相与其他材料（如聚合物、碳纳米管）复合的气凝胶，专指陶瓷相的粒度。
不同批次生产的气凝胶样品：用于批次间质量稳定性对比与一致性评价。
不同合成工艺的气凝胶产物：比较溶胶-凝胶法、水热法等不同工艺对最终产物粒度分布的影响。
服役前后或处理后的气凝胶颗粒：检测热暴露、化学腐蚀等处理后颗粒粒度的变化，评估稳定性。
分级处理后的气凝胶细分样品：经过筛分或气流分级得到的特定粒度范围的样品，进行精准分析。
激光衍射法：基于夫琅禾费衍射或米氏散射理论，通过测量颗粒群散射光能的空间分布反演粒度分布，适用于微米至亚微米范围。
动态光散射法：通过分析纳米颗粒在溶剂中做布朗运动所引起散射光强度的波动速率来测定粒径，主要用于纳米级分散体系。
图像分析法：通过SEM、TEM或光学显微镜获取颗粒图像，经软件识别和统计成千上万个单个颗粒的尺寸与形貌。
离心沉降法：依据斯托克斯定律，在离心力场下测量不同大小颗粒的沉降速度，从而计算粒度分布。
电感应法（库尔特原理）：颗粒通过一个小孔时引起电阻变化，其脉冲幅度与颗粒体积成正比，适用于导电介质中的颗粒计数与测径。
超声衰减谱法：测量超声波在颗粒悬浮液中传播时的衰减频谱，反演得出粒度分布，尤其适合高浓度浆料。
X射线小角散射法：利用纳米尺度电子密度不均匀对X射线的散射效应，测定1-100nm范围内颗粒的尺寸分布与形状信息。
<强>氮吸附法（间接计算）：通过BET法测量比表面积，并假设颗粒为球形且单分散，从而计算出等效比表面积径。
<强>筛分法：使用一系列标准筛对较粗的氣凝膠顆粒（通常大于38μm）进行机械筛分，得到重量分布的经典方法。
<强>在线激光测量法：将激光衍射探头集成于生产工艺管道中，实现对氣凝膠浆料或粉体输送过程的实时、在线粒度监测。
<强>激光粒度分析仪：集成了激光器、探测器阵列和基于米氏理论的反演软件，是测量微米/亚微米级氣凝膠粉体最主流的仪器。
<强>纳米粒度及Zeta电位分析仪：具备动态光散射与电泳光散射功能，用于分析纳米级氣凝膠分散液中初级粒子的流体力学直径。
<强>扫描电子显微镜：提供高分辨率的颗粒形貌图像，结合图像分析软件可进行手动或自动的粒度统计，结果直观。
<强>透射电子显微镜：具有更高的分辨率，可用于观察中熵陶瓷氣凝膠更细微的纳米结构及一次粒子尺寸。
<强>离心沉降式粒度仪：特别适合测量密度较高、具有一定团聚性的中熵陶瓷微粒，测量下限可达纳米级。
<强>库尔特计数器：适用于在电解液中分散的导电性或经处理的氣凝膠颗粒，可提供精确的体积分布和颗粒计数。
<强>超声粒度分析仪：配备超声传感器和反演算法，能够在不稀释的情况下直接测量高浓度氣凝膠悬浮液的粒度分布。
<强>X射线小角散射仪: 用于解析氣凝膠纳米骨架结构的一体化尺寸信息，提供非破坏性的纳米尺度统计结果。
<强>全自动比表面与孔隙度分析仪: 通过低温氮吸附数据计算比表面积，进而间接获得平均孔径和等效粒径信息。
<强>在线实时粒度监测系统: 通常基于激光衍射或超声原理，集成于生产线，实现對氣凝膠制备或加工过程的连续质量控制。
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