
半球辐射率:指玻璃表面在半球空间内所有方向发射红外热辐射的能力,是衡量Low-E性能的核心指标。
法向辐射率:指垂直于玻璃表面方向的辐射率,是理论计算和部分标准中常用的基础参数。
光谱发射率曲线:分析玻璃在远红外波段(通常为2.5-25μm)的发射率随波长的变化关系。
面电阻(方块电阻):测量Low-E镀层的导电性能,与辐射率值直接相关,是快速评估的常用间接指标。
可见光透射比:评估玻璃对可见光波段(380-780nm)的透过能力,关乎采光性能。
太阳光直接透射比:衡量玻璃对太阳光全光谱(300-2500nm)能量的直接透过比例。
太阳光直接反射比:衡量玻璃对太阳光全光谱能量的直接反射比例。
太阳能总透射比(SHGC):评估透过玻璃进入室内的总太阳能热量,是建筑节能的关键参数。
紫外线透射比:检测玻璃对紫外线波段(300-380nm)的透过率,影响室内物品褪色。
颜色均匀性:评估Low-E玻璃在可见光下的外观颜色是否均匀一致,属于表观质量检测。
在线Low-E玻璃:对采用化学气相沉积(CVD)法在浮法生产线高温区生产的在线Low-E玻璃进行检测。
离线Low-E玻璃:对采用磁控溅射真空镀膜(PVD)法在离线生产线上生产的单银、双银、三银Low-E玻璃进行检测。
钢化后Low-E玻璃:检测经过钢化热处理后,Low-E膜层性能(特别是辐射率和面电阻)的变化情况。
夹层及中空复合产品:对使用Low-E玻璃制成的夹层玻璃、中空玻璃等复合产品的整体辐射与光学性能进行检测。
不同膜层结构产品:涵盖单银、双银、三银乃至更复杂膜系结构的Low-E玻璃产品。
不同基片类型:包括应用于透明浮法玻璃、超白玻璃、着色玻璃等不同基片上的Low-E膜层。
新旧样品对比:对实验室加速老化或户外长期曝晒后的样品进行辐射率测试,评估其耐久性。
生产质量控制:在生产线末端或质检环节,对产品进行批量抽样或连续监测。
来料与入库检验:对采购的Low-E原片或半成品进行入厂质量验证。
工程现场抽样:对已安装到建筑幕墙或门窗上的Low-E玻璃进行现场抽样测试。
红外光谱法(发射率模式):使用傅里叶变换红外光谱仪直接测量样品在远红外波段的发射光谱,计算得到辐射率。
红外光谱法(反射率模式):通过测量远红外波段的反射光谱,根据能量守恒原理(发射率=1-反射率-透射率,透射率通常为0)间接计算辐射率。
四探针方块电阻法:使用四探针电阻测试仪测量镀膜表面的方块电阻,通过经验公式估算辐射率,适用于在线快速检测。
量热法(卡计法):通过测量样品在特定条件下的热损失来推算辐射率,是较为经典的方法,但测试复杂耗时。
分光光度计法:使用紫外-可见-近红外分光光度计测量样品的透射和反射光谱,计算光学与太阳得热系数。
参比样片对比法:使用已知辐射率的标准参比样片与待测样品在相同条件下进行红外热像对比分析。
激光闪射法:主要用于测量材料的热扩散系数,结合其他参数可间接分析热辐射性能。
热流计法:在稳态热传递条件下,通过热流计测量通过试样的热流密度,用于评估中空玻璃等复合产品的U值。
标准气候箱法:将样品置于标准温湿度气候箱中,模拟实际环境条件进行长期性能监测。
现场红外热像仪筛查法:使用红外热像仪对已安装的玻璃进行非接触式温度场扫描,定性判断其隔热性能均匀性。
傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):配备积分球或镜面反射附件,用于精确测量远红外波段的发射率或反射率光谱。
四探针方块电阻测试仪:用于快速、无损地测量导电Low-E膜层的表面方块电阻值。
紫外-可见-近红外分光光度计:配备积分球,用于测量300-2500nm波长范围内的透射比和反射比。
红外发射率测量仪(专用设备):专门设计用于直接测量材料法向或半球辐射率的便携式或台式仪器。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察Low-E膜层的微观形貌、厚度及均匀性,辅助分析性能差异原因。
X射线衍射仪(XRD):用于分析镀膜层的晶体结构、物相组成,研究膜层结构与性能的关系。
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