光学薄膜厚度：测量用于增透、反射、分光等目的的光学多层膜或单层膜的总物理厚度。
导电膜层厚度：测量如ITO（氧化铟锡）等透明导电膜的厚度，直接影响其方阻和透光率。
硬质保护膜厚度：测量用于增强玻璃表面硬度、耐刮擦性的SiO2、类金刚石等保护膜的厚度。
憎水憎油膜厚度：测量表面能改性功能膜（如氟硅烷涂层）的厚度，评估其疏水疏油性能基础。
减反射膜厚度：专门针对单层或多层减反射（AR）膜进行厚度测量，以优化特定波段的透射率。
金属反射膜厚度：测量铝、银、铬等金属反射膜的厚度，关乎反射率与耐久性。
介质膜厚度：测量二氧化硅、二氧化钛、五氧化二钽等介质材料的膜层厚度。
复合膜系总厚度：对由多种不同材料交替沉积形成的复杂膜系进行整体厚度测量。
膜层均匀性评估：通过多点测量，评估镀膜在玻璃基板不同位置上的厚度均匀性。
膜层折射率与厚度联测：在测量厚度的同时，精确测定膜层的折射率这一关键光学常数。
平板显示玻璃：应用于LCD、OLED、Mini/Micro-LED显示屏表面的各种功能镀膜。
光学镜头与元件：相机镜头、望远镜、显微镜等光学器件上的增透膜、分光膜等。
建筑节能玻璃：Low-E玻璃、阳光控制镀膜玻璃等建筑幕墙和门窗用镀膜产品。
汽车玻璃：汽车风挡、车窗的憎水膜、红外反射膜、加热除霜导电膜等。
光伏玻璃：太阳能电池盖板玻璃上的减反射膜，用于提升光能利用效率。
半导体晶圆载具：测量石英玻璃、碳化硅等半导体工艺腔体内部件保护涂层的厚度。
消费电子盖板玻璃：手机、平板电脑等设备盖板玻璃的AF（抗指纹）、AR等涂层。
仪器仪表窗口片：各种分析仪器、传感器保护窗口上的特殊功能镀膜。
艺术与装饰玻璃：用于产生干涉色彩的装饰性镀膜，厚度决定颜色表现。
实验室研发样品：新材料、新工艺研发过程中制备的小尺寸镀膜玻璃试样。
光谱椭偏法：通过分析偏振光经膜层反射后的状态变化，非接触、高精度地反演膜厚与光学常数。
白光干涉法：利用白光干涉原理，通过分析干涉条纹的包络峰位置来测量薄膜的几何厚度。
X射线荧光法
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