
光吸收特性:测定材料对不同波长光的吸收能力,评估其光捕获效率。
带隙宽度:确定材料的价带顶与导带底之间的能量差,是判断其光响应范围的关键参数。
荧光/磷光光谱:分析材料受光激发后的发光行为,用于研究光生载流子的复合动力学。
瞬态吸收光谱:探测光生电荷载流子的超快演化过程,如产生、分离和复合寿命。
光电化学电流响应:测量材料在光照下产生的光电流密度,直接反映其光电转换能力。
开路电位与闭路电位:监测光照前后电极电位的变化,评估光生电压和载流子分离效率。
电化学阻抗谱:分析材料/电解质界面的电荷转移电阻和电容,揭示界面反应动力学。
莫特-肖特基曲线:测定材料的平带电位和载流子类型(n型或p型)及密度。
入射光子-电子转换效率:定量评价在不同单色光照射下,材料产生收集电子的效率。
光稳定性测试:在长时间或循环光照下,监测材料结构、形貌及光电性能的衰减情况。
UiO系列Zr-MOFs:如UiO-66, UiO-67及其功能化衍生物,以其高稳定性著称。
MOF-808系列:具有极高比表面积和可调孔径的Zr-MOF材料。
NU系列Zr-MOFs:如NU-1000等具有超大孔径和开放位点的材料。
金属节点掺杂Zr-MOFs:在Zr-O簇中引入其他金属离子以调节电子结构的材料。
有机配体功能化Zr-MOFs:通过修饰配体引入吸光基团或催化位点的材料。
Zr-MOF基复合材料:与半导体、量子点、石墨烯等复合形成的异质结构材料。
纳米结构Zr-MOFs:不同形貌的纳米颗粒、纳米片或薄膜形态的Zr-MOF催化剂。
后合成修饰Zr-MOFs:通过后处理在骨架上嫁接特定官能团的材料。
缺陷工程化Zr-MOFs
:通过调控合成条件引入缺陷以改变局部电子态的材料。负载型Zr-MOF催化剂:将活性组分负载于Zr-MOF孔道或表面的复合体系。
紫外-可见漫反射光谱法:通过测量固体粉末对紫外-可见光的漫反射,计算其吸收边和带隙。
荧光光谱法:使用特定波长光源激发样品,测量其发射光谱,分析发光性质和载流子复合。
时间分辨荧光光谱法:测量荧光衰减曲线,定量获得激发态寿命,用于研究能量转移和电荷分离过程。
<强>瞬态光电化学测试法强>:在脉冲光照射下,记录光电流或光电压的瞬态响应曲线,分析载流子传输动力学。
<强>线性扫描伏安法强>:在光照条件下,对工作电极进行电位扫描,获得光电流-电压曲线,评估光电催化活性。
<强>电化学阻抗谱法强>:在开路电位或施加偏压下,测量不同频率的阻抗响应,拟合得到等效电路参数。
<强>莫特-肖特基测试法强>:通过测量不同频率下的电容与电位关系,计算平带电位和载流子浓度。
<强>IPCE/APCE测试法强>:使用单色仪提供单色光,同步测量短路光电流,计算入射光子到电子的转换效率。
<强>表面光电压谱法强>:直接测量光照引起的材料表面电位变化,是一种研究表面能带弯曲和电荷分离的非接触方法。
<强>强度调制光电流/光电压谱法强>:利用强度调制的单色光激发样品,分析其交流光电流/光电压的幅值和相位随频率的变化,解析动力学过程。
<强>紫外-可见-近红外分光光度计(带积分球)强>:用于测量固体粉末样品的漫反射光谱,以评估其光吸收特性。
<强>荧光光谱仪(PL Spectrometer)强>:配备氙灯或激光光源,用于稳态和时间分辨荧光光谱的采集与分析。
<强>瞬态吸收光谱仪(TAS)强>:利用飞秒或纳秒激光脉冲泵浦-探测技术,研究超快的光物理和光化学过程。
<强>电化学工作站(三电极体系)强>:核心设备,配备光源系统,用于进行各种光电化学测试(LSV, EIS, i-t等)。
<强>光电化学测试池强>:由石英窗、参比电极、对电极和工作电极(涂覆Zr-MOF)组成的标准三电极反应池。
<强>氙灯光源与单色仪系统强>:提供模拟太阳光的宽谱光源或经单色仪分光的单色光源,用于IPCE等光谱响应测试。
<强>表面光电压谱仪(SPS)强>:由单色光源、锁相放大器和Kelvin探头等组成,用于非接触式表面光伏测量。
<强>强度调制光电化学谱仪(IMPS/IMVS)强>:集成了光源调制器和频率响应分析器的专用设备,用于动力学分析。
<强>莫特-肖特基测试附件强>:通常作为电化学工作站的功能扩展,用于电容-电位关系的精确测量。
<强>原位表征联用系统强>如原位XPS、原位Raman与光照联用设备),可在光照条件下实时监测材料表面化学态和结构变化。
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