zeta电位绝对值测量：通过电泳光散射法测定颗粒在电场中的迁移速度，计算表面电势绝对值。测量范围：-200 mV至+200 mV，精度±0.5 mV，温度控制范围20-60℃。
电泳淌度测定：基于颗粒电泳迁移率与电场强度的比值计算电泳淌度值。适用电场强度范围0.1-5 V/cm，分辨率0.1 μm·s⁻¹·V⁻¹·cm，支持动态过程追踪。
粒径分布同步分析：结合激光衍射技术与电泳法，同步获取颗粒粒径分布与zeta电位数据。粒径测量范围0.1 nm-100 μm，zeta电位测量误差≤2%。
pH值对zeta电位影响评估：在pH 2-12范围内调节体系酸碱度，记录zeta电位随pH变化曲线。pH测量精度±0.01，温度补偿范围±1℃。
温度梯度下的zeta电位稳定性测试：设置5-80℃梯度温度，测定不同温度下zeta电位变化速率。温度控制精度±0.1℃，升温速率0.5-5℃/min。
离子强度对双电层结构的干扰检测：通过调节电解质浓度（0.001-1 mol/L），分析双电层厚度与zeta电位的相关性。电解质浓度测量精度±0.0001 mol/L。
表面电荷密度定量分析：基于颗粒体积与zeta电位计算单位面积表面电荷密度。适用颗粒形状球形度≥0.9，电荷密度计算误差≤3%。
颗粒浓度与zeta电位相关性研究：在0.1-50 vol%浓度范围内，测定zeta电位随颗粒浓度的变化趋势。浓度测量精度±0.5 vol%，支持多分散体系检测。
高分子涂层表面电荷均匀性检测：针对涂覆高分子的基材（如玻璃、金属），扫描测定表面不同区域的zeta电位分布。扫描分辨率10 μm×10 μm，均匀性偏差≤5%。
胶体体系ζ电位随时间演变监测：连续记录24小时内胶体体系的zeta电位变化，分析絮凝或稳定化过程的动力学特征。时间间隔可设1 min-1 h，数据采集频率≥1 Hz。
纳米颗粒分散液：粒径10nm-1μm的金属氧化物、量子点等分散体系，用于评估分散稳定性及团聚风险。
高分子水溶液：聚乙烯醇、聚丙烯酰胺等亲水性高分子溶液，检测分子链电荷分布对溶液流变性的影响。
陶瓷浆料：氧化铝、二氧化锆等陶瓷粉体与分散剂配制的浆料，用于优化成型工艺参数。
化妆品乳液：乳霜、精华液等油水混合体系，分析乳化剂效果及产品货架期稳定性。
生物医药制剂：蛋白质溶液、脂质体药物载体等生物大分子分散体系，评估制剂活性保持能力。
涂料油墨体系：水性涂料、印刷油墨的分散相颗粒，检测成膜性能与颗粒荷电状态的关系。
食品胶体：牛奶蛋白、果胶等食品级胶体，保障产品质构稳定与食用安全性。
矿物悬浮液：煤泥、矿浆等矿物颗粒分散液，优化选矿工艺中的分选效率。
电子浆料：导电银浆、陶瓷浆料等功能材料，检测颗粒分散性对电极性能的影响。
聚合物溶液：聚苯乙烯、聚氯乙烯等聚合物稀溶液，研究分子链解缠结与电荷相互作用。
ISO 13099-1:2012 胶体和乳液中颗粒的zeta电位测定 第1部分：电泳法，规定了电泳法测定zeta电位的方法原理与操作步骤。
ASTM D4410-01(2016) 液体分散体系zeta电位的测试方法，适用于纳米颗粒、胶体等分散体系的zeta电位测量。
GB/T 32668-2016 颗粒材料zeta电位测定法，明确了颗粒材料zeta电位的测试条件、仪器要求及数据处理方法。
ISO 22412:2017 动态光散射法测定颗粒尺寸和zeta电位，结合动态光散射与电泳技术实现多参数同步分析。
GB/T 19619-2016 纳米颗粒zeta电位测定，针对纳米级颗粒的特殊性质制定了专用测试规范。
激光多普勒电泳仪：基于多普勒效应测量颗粒电泳迁移速度，配备温度控制和自动滴定系统，支持zeta电位及电泳淌度的同步测定。测量范围覆盖纳米至微米级颗粒，温度控制精度±0.1℃。
微流控电泳分析系统：利用微通道内电场驱动颗粒迁移，结合高速成像技术实现单颗粒电泳行为的实时观测。通道尺寸50-200 μm，时间分辨率≤1 ms，适用于低浓度样品检测。
颗粒电荷分析仪：通过电声法测量颗粒表面电荷引起的溶液介电常数变化，计算zeta电位。适用浓度范围0.001-10 vol%，测量频率10 kHz-1 MHz，支持高浓度悬浮液检测。
原子力显微镜结合电泳模块：利用原子力探针接触颗粒并施加电场，直接测量颗粒表面电荷密度。空间分辨率≤1 nm，电荷测量精度±0.1 e/nm²，适用于单个颗粒的微观电荷分析。
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