激光干涉仪检测

  发布时间:2025-06-10 10:55:10

检测项目

波长稳定性验证:采用氦氖激光源波长基准,测量632.8nm波长漂移量控制在±0.01ppm/24h

平面度误差检测:基于四步移相法,测量分辨率达λ/1000(约0.6nm)

线性位移精度校准:双向重复定位误差≤±0.02μm/m

角度偏转测量:分辨率0.01角秒,量程±300角秒

环境补偿系统验证:温度监测精度±0.1℃,气压补偿误差<0.1ppm

动态振动分析:频率响应范围0-50kHz,振幅分辨率0.1nm

镜组同轴度校准:光路准直误差<3μrad

温度稳定性测试:工作温区10-35℃,热漂移系数≤0.05μm/℃

光学偏振特性检测:消光比>100:1,偏振方向偏差<0.5°

系统非线性误差修正:采用多波长补偿技术,残余误差<0.5nm

检测范围

高精度机床导轨:检测直线度误差和轴向窜动量

光学平面元件:验证λ/20级别表面平整度

精密轴承组件:测量径向跳动和轴向间隙

半导体晶圆设备:校准步进电机定位精度

航天惯导系统:测试陀螺仪安装基准面平面度

微电子制造平台:检测光刻机工作台动态稳定性

精密量具量规:进行长度基准传递校准

光学镀膜基板:分析表面形貌和膜层均匀性

纳米定位系统:验证压电驱动器的位移线性度

工业机器人关节:检测重复定位精度和轨迹误差

检测标准

ISO 230-2:2014机床检测标准中位移精度测试方法

GB/T 17421.2-2016几何量测量设备性能评定规范

ASTM E284-17光学表面测量标准术语

ISO 10110-5:2015光学元件表面缺陷评定

VDI/VDE 2617德国精密长度测量标准

JJG 739-2005激光干涉仪检定规程

ISO 10360-7坐标测量机验收标准

SEMI P18-92半导体设备定位精度测试指南

NIST SP 250-95美国国家标准技术研究院激光计量规范

GB/T 16857-2016产品几何量技术规范(GPS)

检测仪器

多波长激光干涉仪主机:采用双频激光技术实现0.1nm位移分辨率

环境参数监测单元:集成温度、气压、湿度传感器实现实时补偿

高速数据采集系统:实现500kHz采样率下的相位实时解析

主动隔振平台:6自由度振动隔离,衰减率>40dB@10Hz

角度干涉镜组:实现0.01角秒级的角度偏差测量

偏振保持光纤系统:光路传输偏振态变化<0.5°

纳米定位工作台:提供0.1nm步进精度的参考位移基准

热稳定密封罩:控制检测区域温度波动<±0.05℃/h

条纹分析CCD相机:2048×2048像素面阵,帧率1000fps

相位解算处理单元:采用FPGA实时处理算法延迟<5μs

检测服务流程

沟通检测需求:为精准把握客户需求,我们会仔细审核申请内容,与客户深入交流,精准识别样品类型、明确测试要求,全面收集相关信息,确保无遗漏。

签订协议:根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节,为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。

样品前处理:收到样品后,开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员,科学严谨对待每个细节,保证前处理规范准确。

试验测试:此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品,实验设计与操作均遵循科学标准,保障测试结果准确且可重复。

出具报告:测试结束立即生成详尽检测报告,经严格审核确保结果可靠准确,审核通过后交付客户。

我们秉持严谨踏实的态度,提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯,严格遵守保密协议,保障客户满意度与信任度。

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