X射线荧光光谱分析

  发布时间:2023-02-20 13:37:04

X射线荧光光谱分析参考哪些方法?检测标准有哪些?费用是多少?中析检测研究所实验室可依据相关标准制定试验方案。对粉末、块状、薄膜等样品进行检测分析。并出具严谨公正的检测报告。

项目简介

X射线荧光光谱可测元素范围:常规测试范围9F-92U,一般是半定量测试,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,可作为一种快速的无损分析。

适用样品

样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品、块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染等。

X射线荧光光谱分析

相关参考标准

GB/T 41497-2022 钒铁 钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法 第11部分:氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量

GB/T 5687.13-2021 铬铁 铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

GB/T 40312-2021 磷铁 磷、硅、锰和钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

GB/T 40311-2021 钒渣 多元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染

GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分:X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴

GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法 第22部分:锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

办理检测报告的目的

1、评定产品质量的好坏;

2、判断产品质量等级,即缺陷严重程度;

3、对工艺流程进行检验和工序质量的监督;

4.对质量数据进行搜集统计与分析,以便为质量改进与质量管理活动的开展奠定基础;

5.引入仲裁检验判断质量事故责任。

检测报告的注意事项

1.报告中没有“研究测试专用章”和公章,报告没有防伪二维码无效;

2.复制的报告不复盖“研究测试专用章”或者公章无效;

3.报告没有主检,审查,审批人员签名无效;

4.涂改报告无效的;

5.检测报告如有异议,应当在收到报告后15日内提出,逾期不予受理;

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