涂层总厚度：测量从涂层表面到基体材料界面的垂直距离，是评价涂层是否达标的基础指标。
耐磨层厚度：特指涂层中具有高硬度、以抵抗磨损为主要功能的那一层材料的厚度。
过渡层厚度：测量位于表层与基体之间，用于改善结合力、缓解应力梯度的中间层厚度。
氮化层深度：针对渗氮处理工件，测量表面氮化物层及扩散层的总深度。
渗碳层有效硬化层深度：测量从表面到规定硬度值（如550HV）处的垂直距离，是渗碳件关键指标。
氧化膜厚度：测量金属表面通过阳极氧化或热氧化等方式生成的致密氧化层的厚度。
电镀层厚度：测量通过电化学方法沉积在基体表面的金属镀层（如镀铬、镀镍）的厚度。
热喷涂涂层厚度：测量通过火焰、电弧或等离子喷涂技术沉积的涂层厚度，通常结构较疏松。
化学气相沉积(CVD)涂层厚度：测量通过气相化学反应在基体表面生成的硬质薄膜（如TiN、金刚石膜）的厚度。
物理气相沉积(PVD)涂层厚度：测量通过物理方法（如溅射、电弧离子镀）沉积的超薄硬质涂层厚度。
刀具与模具：包括铣刀、钻头、冲压模、注塑模等表面硬质涂层（如TiAlN）的厚度检测。
汽车发动机零部件：如活塞环、曲轴、凸轮轴等部件的渗碳、氮化或热喷涂涂层厚度检测。
航空航天部件：涡轮叶片的热障涂层、发动机部件的耐磨涂层厚度测量。
石油钻探与矿山工具：钻头、截齿等表面强化后的硬质合金或耐磨堆焊层厚度检测。
金属结构件：桥梁、钢结构、船舶等使用的热浸镀锌、喷涂防腐层的厚度检测。
电子元器件：半导体芯片上的绝缘层、导电薄膜的厚度测量。
医疗器械：手术器械、植入物表面的生物相容性涂层或硬化层的厚度检测。
塑料与橡胶模具：模具表面进行的氮化、PVD涂层等以提高耐磨性的表面层厚度。
光学元件：镜片、滤光片上的增透膜、反射膜等光学薄膜的厚度测量。
耐磨板材与辊筒：输送机衬板、轧辊等表面堆焊或喷涂的耐磨复合层厚度检测。
金相法：制备试样截面，在显微镜下直接观测和测量涂层或硬化层的厚度，是仲裁方法。
涡流法：利用涡流原理，适用于测量非导电基体上的导电涂层，或导电基体上的非导电涂层。
磁性法：利用磁阻原理，主要用于测量钢铁等磁性基体上的非磁性涂层厚度（如油漆、镀锌层）。
超声波法：通过超声波在界面反射的时间差计算厚度，适用于较厚的涂层或能从单侧测量的情况。
X射线荧光法(XRF)：通过测量涂层特征X射线强度来确定厚度与成分，适用于薄金属镀层，无损快速。
库仑法（阳极溶解法）：通过电解溶解涂层至基体，根据消耗的电量计算厚度，是一种局部破坏性方法。
轮廓仪法（台阶仪法）：制作一个台阶，用触针扫描轮廓差来测量厚度，适用于硬质薄膜。
光谱椭偏法：通过分析偏振光在薄膜表面反射后的变化来测量厚度，精度极高，适用于超薄透明膜。
干涉显微镜法：利用光波干涉原理，通过干涉条纹测量制备出的截面或特意制作的台阶高度。
截面显微硬度法：通过测量从表面至基体显微硬度的变化曲线，来确定有效硬化层深度。
金相显微镜与图像分析系统：用于金相法观察和测量，配备测微尺或专业图像分析软件。
涡流测厚仪：便携式设备，适用于现场快速测量铝、铜等非铁金属基体上的绝缘涂层。
磁性测厚仪：便携式设备，用于现场测量钢铁基体上的油漆、塑料、锌等非磁性涂层。
超声波测厚仪：用于测量较厚的涂层或基材总厚，特别适用于单面接触测量。
X射线荧光镀层测厚仪：实验室或在线高精度仪器，可同时分析多层镀层的厚度和成分。
库仑测厚仪：用于精确测量金属镀层和阳极氧化膜的局部厚度，测量面积固定。
表面轮廓仪（台阶仪）：高精度接触式轮廓测量设备，用于测量薄膜台阶高度从而得到厚度。
光谱椭偏仪：高精尖光学测量设备，主要用于半导体、光学薄膜等纳米至微米级薄膜的厚度与光学常数分析。
干涉显微镜：利用光干涉原理，非接触测量薄膜台阶高度或表面形貌，精度高。
显微硬度计：配备精密载物台，用于沿涂层或硬化层截面打硬度梯度，确定有效硬化层深度。
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