塞贝克系数：测量材料在温度梯度下产生电势差的能力，是计算Z值的核心参数之一。
电导率：评估材料导电能力的参数，高电导率有助于降低焦耳热损耗，提升功率因子。
热导率：表征材料传导热量能力的参数，低热导率有利于维持温差，是提高Z值的关键。
功率因子：由塞贝克系数的平方与电导率的乘积得出，直接反映材料的发电能力。
热电优值ZT：综合塞贝克系数、电导率、热导率的无量纲值，是评价热电材料性能的终极指标。
载流子浓度：测定材料中自由电荷载流子的密度，直接影响电导率和塞贝克系数。
载流子迁移率：衡量载流子在电场中运动快慢的参数，与电导率密切相关。
霍尔系数：通过霍尔效应测量，用于计算载流子浓度和迁移率。
接触电阻：评估热电器件中电极与热电材料界面处的电阻，对器件效率有重要影响。
长期稳定性测试：在高温、循环热应力等条件下测试材料与器件性能的衰减情况。
块体热电材料：包括Bi2Te3、PbTe、SiGe、方钴矿等传统及新型块体合金与化合物。
薄膜热电材料：通过物理或化学方法沉积的纳米级、微米级热电薄膜。
低维纳米材料：如热电纳米线、纳米片、超晶格等具有量子限域效应的材料。
有机热电材料：以导电聚合物为主的新型柔性、可溶液加工的热电材料。
复合热电材料：由多种相复合而成，旨在通过声子散射降低热导率的材料体系。
单根热电腿：构成热电模块的基本单元，即单一的P型或N型热电元件。
微型热电器件：为微电子系统或可穿戴设备供能或制冷的微型化热电芯片。
标准热电模块：由多个热电偶对串联/并联组成的商用或实验室级发电或制冷模块。
分段热电器件：沿长度方向由不同材料组成，以在不同温区优化性能的高效器件。
热电器件界面材料：用于评估焊料、扩散阻挡层等界面材料的性能与可靠性。
稳态法：在样品两端建立稳定的温度梯度和热流，直接测量温差和热流以计算热导率。
激光闪光法：通过激光脉冲照射样品正面，测量背面温升曲线来计算热扩散系数，进而得到热导率。
3ω法：主要用于薄膜材料，通过测量沉积在样品上的金属线电阻的三次谐波电压来得到热导率。
塞贝克系数直流测量法：对样品施加一个小的稳定温差，测量产生的热电势，计算塞贝克系数。
四探针法：采用四个等间距探针接触样品，用于精确测量块体或薄膜材料的电阻率或电导率。
范德堡法：适用于任意形状的薄片样品，通过测量不同电极对间的电阻来计算电阻率。
霍尔效应测量法：在垂直磁场中测量样品的霍尔电压，用于确定载流子类型、浓度和迁移率。
阻抗谱法：通过分析器件在不同频率交流电下的响应，分离并评估体电阻与接触电阻。
综合性能测试系统法：使用商用或自建系统，在真空或惰性气氛下同时测量塞贝克系数和电导率。
器件级效率测试法：对完整的热电模块施加负载，直接测量其最大输出功率或制冷温差与能效。
激光闪射导热仪：用于精确测量材料的热扩散系数，是获得热导率的关键设备。
热电性能综合测试系统：集成化设备，可在一定温度范围内同步测量塞贝克系数和电导率。
稳态热导率测试仪：基于防护热板法或热流计法，直接测量材料的热阻或热导率。
四探针电阻测试仪：配备高温样品台的系统，用于测量材料在不同温度下的电阻率。
霍尔效应测量系统：包含电磁铁、精密电流源和电压表，用于表征材料的载流子输运特性。
物理性质测量系统：多功能综合平台，可选配模块进行电阻、霍尔、热导率、比热等多种测量。
高低温真空探针台：提供可控温度环境和真空/气氛条件，用于薄膜或微型器件的电学性能测试。
扫描电子显微镜：用于观察材料的微观形貌、晶粒尺寸以及断面结构，辅助性能分析。
X射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构、相组成、晶粒取向和应力状态。
器件性能评估平台：定制化系统，包含热源、热沉、负载、数据采集等，用于测试完整热电模块的转换效率。
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