拉曼光谱分析、透射电子显微镜观察、原子力显微镜扫描、X射线光电子能谱测定、紫外-可见-近红外吸收光谱分析、热重分析、比表面积测定(BET法)、Zeta电位测试、电导率测量、手性指数计算、缺陷密度评估、管径分布统计、长度分布分析、金属/半导体性质判定、元素组成分析(EDS)、荧光量子产率测试、电子顺磁共振谱测定、近边缘X射线吸收精细结构(NEXAFS)分析、电子能量损失谱(EELS)表征、光学各向异性测试、溶液分散稳定性评估、表面官能团定性定量分析(FTIR)、动态光散射粒径分析、霍尔效应测试、塞贝克系数测定、场发射特性评价、机械强度测试(AFM三点弯曲法)、氧化温度测定(TGA-DSC联用)、荧光寿命成像(FLIM)、磁化率测量。
CVD法制备样品、电弧放电法制备样品、激光烧蚀法制备样品、HiPco工艺产物、CoMoCAT工艺产物、溶液相分散体系、薄膜状复合材料、纤维增强基体材料、锂离子电池电极材料、超级电容器电极材料、场效应晶体管器件样本、生物传感器探针材料、导热界面材料样本、电磁屏蔽涂层样本、储氢材料试样、光催化反应体系样本、高分子共混复合材料样本、金属基复合镀层样本、量子点复合体系样本、太阳能电池光吸收层样本、柔性电子器件基底材料样本、药物载体功能化样本、环境污染物吸附材料样本、3D打印专用母料样本、航空航天用轻量化材料样本、纳米流体传热介质样本、肿瘤光热治疗试剂样本。
拉曼光谱分析:通过532/633/785nm激光激发碳纳米管径向呼吸模(RBM)与G/D波段振动信号,解析手性指数(n,m)与缺陷密度。
透射电子显微镜观察:采用200kV场发射TEM配合电子衍射模式,实现单根碳管直径测量与层数判定。
原子力显微镜扫描:利用轻敲模式获取三维形貌图像并计算表面粗糙度参数Ra/Rq。
X射线光电子能谱测定:通过AlKα射线激发C1s轨道电子结合能位移分析表面官能团类型。
紫外-可见-近红外吸收光谱分析:基于E11/E22电子跃迁特征峰定位判定半导体型/金属型占比。
热重分析:在空气氛围中以10℃/min升温至800℃,通过失重曲线计算非碳成分含量。
比表面积测定(BET法):采用氮气吸附-脱附等温线计算比表面积与孔径分布参数。
Zeta电位测试:通过动态光散射技术测量表面电荷特性以评估分散稳定性。
电导率测量:使用四探针法在真空环境中测定薄膜样品的面电阻与载流子迁移率。
手性指数计算:结合径向呼吸模频率公式ωRBM=223.5/d+12.5与(n,m)矢量关系建立映射模型。
ISO/TS21346:2021纳米技术-单壁碳纳米管表征用拉曼光谱法
ASTME2859-11(2020)透射电子显微镜测定碳纳米管直径的标准指南
GB/T33818-2017碳纳米管比表面积的测定气体吸附BET法
ISO29794:2020纳米材料热重分析法测定非挥发性残留物含量
IEC62607-3-1:2014纳米制造-关键控制特性-第3-1部分:碳纳米管电导率测量
ASTME2865-12(2018)原子力显微镜测定碳纳米材料表面形貌的标准规程
ISO19749:2021纳米技术-扫描电子显微镜测量纳米颗粒尺寸及形状分布
JISK0145:2022表面化学分析-X射线光电子能谱法通则
GB/T38783-2020贵金属复合材料中碳纳米管含量的测定热重分析法
ASTMWK74324单壁碳纳米管手性分布测定的近红外光谱法新标准提案
拉曼光谱仪:配备532nm/785nm双激光源与深耗尽型CCD探测器,分辨率≤1cm⁻,用于手性识别与缺陷分析。
场发射透射电镜:配置高角度环形暗场探测器(HAADF)与电子能量损失谱仪(EELS),空间分辨率达0.1nm。
原子力显微镜:采用峰值力轻敲模式技术,Z轴分辨率0.01nm,支持力学性能定量测量。
X射线光电子能谱仪:配备单色化AlKα源与半球型能量分析器,能量分辨率≤0.45eV。
同步热分析仪:集成TGA/DSC同步测量模块,温度精度0.1℃,支持氧化动力学研究。
全自动比表面及孔隙度分析仪:采用静态容量法原理,可测孔径范围0.35-500nm。
四探针电阻测试系统:配备高精度恒流源与纳伏表,测量范围10⁻⁶~10Ωcm。
动态光散射仪:搭载173非侵入背散射光学系统,粒径测量下限达0.3nm。
荧光寿命成像系统:采用时间相关单光子计数技术(TCSPC),时间分辨率≤25ps。
霍尔效应测试系统:配置1T永磁体与低温恒温器(-269~300℃),支持变温载流子浓度测量。
沟通检测需求:为精准把握客户需求,我们会仔细审核申请内容,与客户深入交流,精准识别样品类型、明确测试要求,全面收集相关信息,确保无遗漏。
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试验测试:此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品,实验设计与操作均遵循科学标准,保障测试结果准确且可重复。
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