合成钻石检测体系包含七大核心指标：晶体生长纹路分析、氮元素含量测定、荧光反应图谱记录、红外吸收光谱扫描、拉曼位移值测量、阴极发光成像观测以及激光诱导击穿光谱测试。其中晶体缺陷类型鉴别需达到微米级分辨率要求，对位错密度和生长方向进行三维建模。红外光谱需重点捕捉1332cm-1特征峰强度比，有效区分Ib型合成钻石与天然IIa型钻石。
紫外-可见光分光光度计需完成200-800nm全波段扫描，识别特定吸收带位点。光致发光谱需在液氮低温环境下采集NV色心发光特征。热导率测试需保持0.1mW/(mK)级测量精度同步进行比对照实验。阴极发光系统应配置高灵敏度CCD探测器，对生长区带进行多光谱层析成像。
本检测标准适用于高温高压法（HPHT）及化学气相沉积法（CVD）制备的各类合成钻石材料。涵盖无色至彩色改色处理品级D至Z色系列成品钻饰及工业用多晶金刚石基板。特别包含表面镀膜处理、离子注入改色等二次加工产品的鉴别需求。
针对0.01ct至10ct重量区间裸石实施全项检测认证服务。对于群镶首饰中的微镶钻石（≤0.02ct）可提供无损定位检测方案。工业级金刚石薄膜材料需进行截面取样分析厚度方向结晶特征。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）法依据GB/T34543标准执行测试程序：将样品置于液氮冷却台降温至-196℃，采用反射模式采集400-4000cm-1波段数据。DiamondViewTM荧光成像系统按ISO18323规范操作：使用225nm激发光源持续照射30秒后采集短波紫外荧光图像。
激光拉曼光谱分析遵循ASTMF3049标准流程：选用532nm激光源在50倍物镜下聚焦样品表面，积分时间设定为60秒/点。X射线形貌术采用劳厄背反射法获取晶体缺陷分布图样：管电压设定40kV条件下进行360旋转扫描。
配备HoribaLabRAMHREvolution型显微共焦拉曼光谱仪：配置三光栅系统实现0.35cm-1光谱分辨率；DiamondSureTM自动筛查系统集成532nm/785nm双波长激光源；NicoletiN10MX傅里叶红外显微镜配备MCT/A探测器；牛津仪器CathodoluminescenceGatanMonoCL4系统配备帕尔贴冷却样品台。
辅助设备包含BrukerD8DiscoverX射线衍射仪（Cu靶Kα辐射源）、ThermoScientificiCAPRQICP-MS质谱仪（氦碰撞模式）、HitachiSU9000场发射扫描电镜（二次电子/背散射双探测器）。温控系统采用LinkamTS1500冷热台实现-196℃至600℃精确控温。
沟通检测需求：为精准把握客户需求，我们会仔细审核申请内容，与客户深入交流，精准识别样品类型、明确测试要求，全面收集相关信息，确保无遗漏。
签订协议：根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节，为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。
样品前处理：收到样品后，开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员，科学严谨对待每个细节，保证前处理规范准确。
试验测试：此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品，实验设计与操作均遵循科学标准，保障测试结果准确且可重复。
出具报告：测试结束立即生成详尽检测报告，经严格审核确保结果可靠准确，审核通过后交付客户。
我们秉持严谨踏实的态度，提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯，严格遵守保密协议，保障客户满意度与信任度。
