光伏组件光衰可靠性检测体系包含六个核心验证模块：
初始光致衰减(LID)测试：测量组件在首年运行期间因硼氧复合体形成导致的功率衰减量值
电势诱导衰减(PID)测试：模拟高系统电压下离子迁移对电池片表面钝化层的破坏效应
温度循环(TC200)测试：执行-40℃至85℃极端温度交变试验验证材料热膨胀系数匹配性
湿热老化(DH1000)测试：85%RH湿度环境下持续1000小时加速老化评估封装材料水解风险
紫外预处理试验：累计15kWh/m² UV辐照量模拟户外紫外线对EVA交联度的影响
机械载荷测试：5400Pa静态载荷下持续3小时验证组件结构完整性对光衰的间接影响
本检测方案适用于以下三类光伏组件的可靠性验证：
晶硅组件体系：
单晶PERC组件（182mm/210mm大尺寸硅片）
双面双玻N型TOPCon组件（含透明背板结构）
半片多主栅HJT异质结组件（含低温焊接工艺）
薄膜组件体系：
CIGS铜铟镓硒柔性组件（不锈钢基底）
碲化镉(CdTe)建筑一体化组件（夹胶玻璃结构）
新型技术组件：
钙钛矿/晶硅叠层组件（宽带隙材料体系）
有机光伏(OPV)透明发电组件（ITO电极体系）
依据IEC TS 63209-1:2021标准建立分级测试流程：
基准功率校准： 在STC条件下（1000W/m², AM1.5G, 25℃）使用AAA级太阳模拟器测量初始最大功率Pmax
加速老化程序：
85℃/85%RH湿热箱持续处理1000小时（等效户外25年湿热暴露）
-40℃至85℃温度循环200次（模拟10年热应力冲击）
电致发光(EL)诊断： 采用InGaAs探测器在0.8-1.2μm波段捕捉微裂纹与隐裂缺陷分布
量子效率谱分析： 使用300-1200nm单色光源扫描电池片内外量子效率曲线变化
| 设备类型 | 技术参数 | 功能说明 |
|---|---|---|
| A级太阳模拟器 | 瞬态稳定性≤0.5% | STC条件下功率标定与IV曲线测绘基准设备 |
| 步入式环境箱 | 温变速率≥3℃/min | 执行TC200/DH1000复合应力加速老化试验 |
