X射线光度法主要针对以下镀层特性进行检测：
单金属镀层厚度（如金、银、镍、铜等贵金属及工业金属）
合金镀层成分比例与厚度（如锌镍合金、锡铅合金等）
多层复合镀层的分层厚度（如Ni/Cu/Au三明治结构）
局部区域镀层均匀性评估
基体材料对镀层的扩散渗透分析
本方法适用于以下领域的镀层检测需求：
PCB板表面处理层（化学镍金、沉银、OSP等）
半导体封装电镀结构
连接器触点贵金属镀层
发动机部件耐磨镀层（如铬镀层）
紧固件防腐镀层（锌镍合金等）
装饰性电镀件（轮毂镀层等）
涡轮叶片热障涂层
航空紧固件镉钛镀层
电磁屏蔽复合镀层
珠宝首饰贵金属包覆层检测
光伏电池电极导电膜层
工业刀具硬质涂层（TiN、CrN等）
待测样品需满足以下条件：表面清洁无污染、测试区域平整度≤5μm、有效检测面积≥3mm²。对于曲面样品需配置专用夹具保证入射角稳定。
选择与待测样品基体匹配的标准片（材质/厚度公差±1%）
建立元素特征谱库（能量分辨率≤150eV）
进行基体效应校正（ZAF法或基本参数法）
验证标准片测量误差≤±2%
| 元素原子序数 | 管电压(kV) | 滤光片选择 |
|---|---|---|
| Z≤30 | 15-25 | Al/Ti初级滤光片 |
| 30＜Z≤50 | 30-40 | Cu/Ni次级滤光片 |
| Z＞50 |
采集时间设定：根据信号强度选择60-300s积分时间
背景扣除：采用动态背景拟合算法消除散射干扰
谱峰解析：使用最小二乘法解卷积重叠峰
厚度计算：基于Lachance-Traill修正模型迭代运算
X射线发生器：微焦斑金属陶瓷管（焦斑尺寸≤50μm）
探测器系统：硅漂移探测器（能量分辨率＜140eV）或比例计数器阵列
多维样品台：XYZ三轴移动精度±5μm+360°旋转功能+倾角调节机构
| 型号示例 |
|---|
标准校准片组（NIST可溯源）
真空样品室（＜10Pa工作压力）
激光定位系统（定位精度±0.1mm）
沟通检测需求：为精准把握客户需求，我们会仔细审核申请内容，与客户深入交流，精准识别样品类型、明确测试要求，全面收集相关信息，确保无遗漏。
签订协议：根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节，为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。
样品前处理：收到样品后，开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员，科学严谨对待每个细节，保证前处理规范准确。
试验测试：此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品，实验设计与操作均遵循科学标准，保障测试结果准确且可重复。
出具报告：测试结束立即生成详尽检测报告，经严格审核确保结果可靠准确，审核通过后交付客户。
我们秉持严谨踏实的态度，提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯，严格遵守保密协议，保障客户满意度与信任度。
