键合丝检测

  发布时间:2024-12-11 08:51:19

键合丝检测哪里可以做?检测项目有哪些?检测报告办理费用是多少?检测中心拥有多年的键合丝检测的技术经验,可根据客户的检测要求制定科学的测试方法,并提供严谨的测试报告,帮助客户了解产品的技术参数。

检测项目

直径测量、拉伸强度测试、延伸率测试、导电性测试、硬度测试、弯曲测试、扭曲测试、抗腐蚀性测试、表面质量检查、氧化层厚度测试、金相组织分析、断裂韧性测试、表面粗糙度测试、尺寸精度测试、材料成分分析、微观结构分析、电迁移测试、热循环测试、环境适应性测试、耐热性测试、耐化学性测试、无损检测、焊接强度测试、断裂分析、应力测试、表面处理检查、清洁度测试、包装完整性测试等。

适用范围

金键合丝、银键合丝、铜键合丝、铝键合丝、铂键合丝、钯键合丝、镍键合丝、铁键合丝、钨键合丝、金丝、银丝、铜丝、铝丝、合金键合丝、镀层键合丝、高强度键合丝、高导电性键合丝、高温键合丝、低温键合丝、高可靠性键合丝、微细键合丝、粗键合丝、预成型键合丝、定制键合丝、平面键合丝、球面键合丝、自蔓延键合丝等。

相关检测标准

SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法

GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度

GB/T 28277-2012 硅基MEMS制造技术.微键合区剪切和拉压强度检测方法

GB/T 8646-1998 半导体键合铝-1%硅细丝

DIN EN 62047-25-2017 半导体器件. 微型机电装置. 第25部分: 硅基MEMS制造技术. 微键合区拉压和剪切强度的测量方法

YS/T 1105-2016 半导体封装用键合银丝

NF C96-050-9-2012 半导体器件 - 微型机电装置 - 第9部分: 微机电系统硅片的硅片键合强度测试.

IEC 62047-9 CORR 1-2012 半导体器件.微型机电器件.第9部分:微机电系统硅片的硅片键合强度测试

相关介绍

键合丝是半导体器件和集成电路组装时,为使芯片内电路的输入/输出连接点(键合点)与引线框架的内接触点之间实现电气连接的内引线。键合丝作为键合内引线,应具有电导率高,导电能力强,与导体材料的结合力强,化学性能稳定等性能优点。

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效,报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议,应于收到报告之日起十五日内提出,逾期不予受理;

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