陶瓷电容检测去哪做？中析研究所科研实验室，可以为您提供陶瓷电容检测服务，出具原始数据报告，支持全国范围扫码查询。
电容量测试、损耗因数测试、绝缘电阻测试、耐电压测试、温度特性测试、频率特性测试、寿命测试、可靠性测试、物理尺寸检查、端面平整度测试、引线焊接强度测试、外观检查、X射线荧光光谱分析、RoHS合规性测试、可焊性测试、存储和温度湿度测试、热冲击测试、机械应力测试、端头强度测试、耐化学性测试、环境适应性测试等。
NPO电容、X7R电容、X5R电容、Y5V电容、Z5U电容、C0G电容、COG电容、U2J电容、U2B电容、U2A电容、X7S电容、X7T电容、X7U电容、Y5P电容、Y5T电容、Y5W电容、C0G/NP0电容、C0G/C01电容、C0G/C02电容、C0G/C03电容、C0G/C04电容、C0G/C06电容、C0G/C08电容等。
检测周期：7-15个工作日
推荐项目：指标检测、性能测试、理化性能、成分分析等
陶瓷电容器品种繁多，外形尺寸相差甚大从0402(约1×0.5mm)封装的贴片电容器到大型的功率陶瓷电容器。按使用的介质材料特性可分为Ⅰ型、Ⅱ型和半导体陶瓷电容器;按无功功率大小可分为低功率、高功率陶瓷电容器;按工作电压可分为低压和高压陶瓷电容器;按结构形状可分为圆片形、管型、鼓形、瓶形、筒形、板形、叠片、独石、块状、支柱式、穿心式等。
GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料
ASTM D2149-2013 频率为10 MHz温度不高于500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的标准试验方法
DLA MIL-PRF-83401 H SUPP 1-2006 电阻网络,电容电阻网络,陶瓷电容器及固定薄膜电阻器的一般规定
DLA QPL-83401-87-2006 薄膜固定电阻网络及电容电阻网络陶瓷电容器和固定薄膜电阻器一般规格
DLA DSCC-DWG-89086 REV G-2004 单列直插式封装陶瓷电容器网络(4个电容区)CG
ASTM D2149-1997 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法
ASTM D2149-1997(2004) 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法
NC 66-31-1986 电子线路.可变陶瓷电容.质量规范
CSN 34 6317-1984 电工材料陶瓷测试.电容率和介电损耗因数的测定方法
1、报告无“研究测试专用章”或公章无效，报告无防伪二维码无效；
2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效
3、报告无主检、审核、批准人签字无效
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5、对检测报告若有异议，应于收到报告之日起十五日内提出，逾期不予受理；
6、送样委托检测，仅对来样负责。
