碳化硅单晶片检测

碳化硅单晶片检测找什么单位做?检测项目及标准有哪些?检测报告办理费用是多少?中析检测研究所中心拥有丰富的碳化硅单晶片检测的技术经验，可根据客户的检测要求制定科学的实验方案，并提供数据严谨的测试报告，帮助客户了解产品的技术参数。

检测项目：

微管密度、直径、厚度、平整度等。

适用范围

碳化硅单晶片。

相关检测标准

GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法

相关介绍

碳化硅晶片的主要应用领域有LED固体照明和高频率器件。该材料具有高出传统硅数倍的禁带、漂移速度、击穿电压、热导率、耐高温等优良特性，在高温、高压、高频、大功率、光电、抗辐射、微波性等电子应用领域和航天、军工、核能等极端环境应用有着不可替代的优势。

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效，报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议，应于收到报告之日起十五日内提出，逾期不予受理;