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硅片表面检测

硅片表面检测报告什么单位能出?中化所检测中心是一家拥有CMA资质的综合性科研机构,实验室内部收集积累有大量的标准或非标准的检测方法,以满足客户的各种检测需求。出具原始数据报告,全国支持一件扫码查询。

样品应用范围

单晶硅片、多晶硅片、非晶硅片、芯片用硅片、光伏板用硅片等。

推荐项目

表面电阻、平整度、弯曲度、翘曲度、平面度等。

硅片表面检测

相关标准

GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法

GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法

GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T 12965-2018硅单晶切割片和研磨片

GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法

GB/T 14140-2009硅片直径测量方法

为什么选择中化所做硅片表面检测?

1,隶属集体所有制,拥有CMA资质认证,国家高新技术企业;

2,检测周期更短,工程师一对一全程全项目跟进;;

3,检测承接范围更广,八大实验室支持全项目检测;

4,检测报告认可度更高,适用范围涵盖各个领域;

5,公检法及军工部门合作单位,报告数据科学、公正、严谨。

硅片表面检测的流程

1、检测咨询:在线咨询或直接拨打免费咨询热线,表明检测需求。

2、取送样品:全国范围支持上门取样服务、样品寄送或直接送样。

3、样品初检:收到样品后的第一时间,工程师会对您的样品进行初步的检查。

4、费用报价:根据初检数据,结合实际检测项目给予合理的报价。

5、签订协议:签订检测委托书及保密协议,确保客户隐私及信息保密。

6、试验实施:进行试验,获取所需检测项目的原始数据。

7、出具报告:出具科学严谨的测试报告,全国范围支持递送,完成委托。

8、更多增值服务。

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效,报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效

3、报告无主检、审核、批准人签字无效

4、报告涂改无效

5、对检测报告若有异议,应于收到报告之日起十五日内提出,逾期不予受理;

6、送样委托检测,仅对来样负责。

本文网址http://test.yjssishiliu.com/cailiaojiance/1226.html

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