点读笔CE检测

  发布时间:2025-05-06 10:50:33

检测项目

CE认证体系要求点读笔完成以下核心检测项目:

电磁兼容性(EMC):包含辐射骚扰(30MHz-6GHz)、传导骚扰(150kHz-30MHz)、静电放电抗扰度(±8kV接触/±15kV空气)、射频场感应的传导骚扰抗扰度(0.15-80MHz)及电快速瞬变脉冲群抗扰度(±2kV电源线/±1kV信号线)

低电压安全(LVD):涉及绝缘电阻(≥100MΩ@500VDC)、耐压强度(3000VAC/60s无击穿)、温升测试(外壳≤60℃)、机械强度(1m自由跌落无功能性损伤)及异常操作保护(短路/过载工况下的安全响应)

化学物质限制(RoHS):铅(≤1000ppm)、镉(≤100ppm)、汞(≤1000ppm)、六价铬(≤1000ppm)、多溴联苯(PBBs≤1000ppm)及多溴二苯醚(PBDEs≤1000ppm)的定量分析

能效与功耗:待机功率(≤0.5W)、工作模式能耗及电池管理系统效能评估

检测范围

检测对象覆盖点读笔整机及其关键组件:

结构组件:ABS/PC塑胶外壳的阻燃等级(UL94 V-1级)、金属部件的镍释放量(≤0.5μg/cm²/week)及印刷油墨的可迁移元素含量

电子模块:PCB电路板的铜箔剥离强度(≥1.0N/mm)、锂电池的过充/过放保护阈值及充电接口的插拔耐久性(≥5000次循环)

声学系统:扬声器最大声压级(≤85dB(A)@10cm)、频率响应范围(300Hz-15kHz±3dB)及音频失真度(THD≤3%@1kHz)

:红外扫描头的波长精度(±5nm)、光功率密度(≤1mW/cm²)及LED指示灯的色彩坐标CIE1931合规性

检测方法

标准化检测流程依据下列国际规范执行:

EMC测试:在10m法半电波暗室中按EN 55032 Class B进行辐射发射测试;使用人工电源网络与电流探头完成EN 55032传导发射量测;依据EN 61000-4-2至EN 61000-4-6系列标准实施抗扰度试验

电气安全验证:采用IEC 62368-1规定的试验指与试验针进行接触防护评估;通过热成像仪监控LVD条款7.1.3要求的温度限值;按IEC 60068-2-31实施6面3次循环跌落试验

:参照IEC 62321-5:2013采用X射线荧光光谱仪(XRF)进行快速筛查;对疑似超标样品使用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)进行精确定量;多溴联苯类物质采用气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)分析

:在背景噪声≤20dB(A)的消声室内按IEC 61672-1 Class 1配置声级计;采用正弦扫频信号源与FFT分析仪完成频率响应特性测试

检测仪器

关键检测设备清单及其技术参数:

:罗德与施瓦茨ESR26型,频率范围9kHz-26.5GHz,符合CISPR 16-1-1规范

:Chroma 19032-P,输出电压AC 0-5kV/DC 0-6kV,精度±1%设定值+5V

:ETS-Lindgren HI-6025近场探头套件,覆盖9kHz-6GHz频段

:ESPEC TSA-71S-W,温变速率≥15℃/min,温度范围-70℃~+180℃

:Keysight N6705C直流电源分析模块,电压分辨率1μV,电流分辨率10nA

:Malvern Mastersizer 3000E,粒径测量范围10nm-3.5mm,符合ISO 13320标准要求

检测服务流程

沟通检测需求:为精准把握客户需求,我们会仔细审核申请内容,与客户深入交流,精准识别样品类型、明确测试要求,全面收集相关信息,确保无遗漏。

签订协议:根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节,为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。

样品前处理:收到样品后,开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员,科学严谨对待每个细节,保证前处理规范准确。

试验测试:此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品,实验设计与操作均遵循科学标准,保障测试结果准确且可重复。

出具报告:测试结束立即生成详尽检测报告,经严格审核确保结果可靠准确,审核通过后交付客户。

我们秉持严谨踏实的态度,提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯,严格遵守保密协议,保障客户满意度与信任度。

本文链接:https://test.yjssishiliu.com/qitajiance/11987.html
下一篇:USB风扇检测

400-635-0567

北京中科光析科学技术研究所

投诉举报:010-82491398

企业邮箱:010@yjsyi.com

地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121

山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼

北京中科光析科学技术研究所 京ICP备15067471号-11