粒度分布、氧含量测定、金属包裹体含量、磁性物质含量、晶体形貌分析、晶格缺陷密度、热稳定性测试、抗压强度测定、比表面积测量、堆积密度测定、电导率测试、介电常数测定、元素成分分析（Fe/Ni/Co/Si/Al等）、表面官能团鉴定、zeta电位测定、吸油值测定、团聚指数测定、单颗粒强度测试、晶面取向分析、热膨胀系数测定、导热系数测试、抗氧化性能评估、耐酸碱性测试、磨削比测定、显微硬度测试、表面粗糙度测量、荧光特性分析、X射线衍射纯度检验、红外光谱特征峰分析、拉曼光谱缺陷表征
精密磨具用微粉、光学加工材料涂层微粉、半导体切割工具基材微粉、地质钻头复合微粉、PCD刀具烧结原料微粉、CMP抛光液添加剂微粉、导热复合材料填料微粉、电子封装材料增强相微粉、涂层刀具表面改性微粉、金刚石线锯镀层微粉、超精密研磨膏载体微粉、3D打印金属基复合粉末添加剂微粉、热沉材料复合基体微粉、声学器件抛光料浆微粉、MEMS加工专用微粉、纳米级单晶金刚石分散液原料微粉、真空镀膜靶材原料微粉、高温轴承润滑剂添加剂微粉、防弹复合材料增强相微粉、人工关节涂层原料微粉、量子器件散热基材复合微粉、核辐射探测器晶体原料微粉、高功率激光窗口材料复合微粉、超导器件散热基板填料微粉、航天器热防护涂层添加剂微粉
激光粒度分析法：采用Mie散射原理测定0.1-1000μm范围内的粒径分布曲线
X射线荧光光谱法：通过特征X射线强度定量分析Fe/Ni/Co等金属杂质含量
振动样品磁强计法：测量磁性物质含量至10-6emu/g量级
扫描电镜-能谱联用技术：实现单颗粒形貌观察与表面元素面分布分析
BET氮气吸附法：基于多层吸附理论计算比表面积（精度0.05m/g）
同步热分析法：在氧化气氛下以10℃/min升温速率测定起始氧化温度
纳米压痕技术：采用Berkovich压头测量单颗粒硬度（载荷分辨率0.1μN）
拉曼光谱法：通过1332cm-1特征峰半高宽评估晶体缺陷密度
电感耦合等离子体质谱法：实现ppb级痕量元素定量分析
动态光散射法：测量纳米级颗粒的Zeta电位及分散稳定性指数
GB/T3045-2017普通磨料碳化硅化学分析方法
GB/T3488.1-2018超硬磨料堆积密度测定方法
JB/T7989-2012超硬磨料人造金刚石技术条件
GB/T23536-2020超硬磨料金刚石热稳定性测定方法
ISO6106:2021超硬磨料制品金刚石粒度检验
ASTMB822-20金属粉末粒度分布的测试方法
GB/T19077-2016粒度分析激光衍射法
GB/T19587-2017气体吸附BET法测定固态物质比表面积
GB/T13221-2020纳米粉末粒度分布的测定X射线小角散射法
GB/T24533-2019锂离子电池石墨类负极材料中磁性物质含量的测定方法
马尔文Mastersizer3000激光粒度仪：配备湿法分散模块与超声系统，测量范围10nm-3.5mm
FEINovaNanoSEM450场发射电镜：配备EDS能谱仪与EBSD系统（分辨率1nm）
NetzschSTA449F3同步热分析仪：最高温度1600℃，TG分辨率0.1μg
HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532nm/633nm双激光源配置（空间分辨率0.5μm）
Agilent7900ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪：检出限达ppt级（质量范围2-260amu）
MicromeriticsASAP2460比表面及孔隙度分析仪：BET比表面测量精度1%
BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备Cu靶光源（2θ范围3-160）
TecnaiG2F20透射电镜：点分辨率0.24nm（加速电压200kV）
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