半导体材料成分检测

半导体材料成分检测什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?费用是多少?中析检测研究所实验室可根据GB/T 33049-2016 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法等相关标准制定试验方案。对半导体材料成分检测的化学成分分析、元素分析等项目进行检测分析。并出具严谨公正的半导体材料成分检测报告。

检测项目

化学成分分析、元素分析、键合强度、扫频振动、引出端强度、剪切强度、电离辐照、气候试验、可焊性等。

适用范围

元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体、非晶态与液态半导体等。

相关检测标准

KS D 2717-2008 单层碳纳米管、金属/半导体成分比评估.吸收光谱法

GB/T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法

GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法

GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度

GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度(引线牢固性)

GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度

GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)

GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性

GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范

GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效，报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议，应于收到报告之日起十五日内提出，逾期不予受理;