碳化硅检测

  2021-07-31

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碳化硅检测

检测项目:

密度检测、碳含量检测、硅含量检测、熔点检测、折射率检测、相对介电常数检测、禁带宽度检测、电子迁移率检测等。

适用范围

黑碳化硅、绿碳化硅等。

相关检测标准

GB/T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法

GB/T 37466-2019 氮化镓激光剥离设备

GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范

GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法

GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片

GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法

SJ/T 11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片

相关介绍

碳化硅二极管主要为肖特基二极管。第一款商用碳化硅肖特基一极管十多年前就已推出。从那时起,它就开始进入电源系统。二极管已经升级为碳化硅开关,如JFET,BJT和MOSFET.U前市场上已经可以提供击穿电压为600-1700 v、且额定电流为1 A-60 A的碳化硅开关。

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效,报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议,应于收到报告之日起十五日内提出,逾期不予受理;

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