总汞含量、无机汞形态分析、有机汞化合物测定、甲基汞定量、乙基汞定量、金属态汞测定、溶解态汞分析、悬浮态汞检测、气态汞捕集量测、吸附态汞解析量、氧化态汞还原量、硫化汞转化率测定、汞同位素比值分析、纳米级汞颗粒表征、表面汞污染评估、体相汞分布扫描、高温挥发性汞测试、低温稳定性汞监测、酸浸出汞总量、碱溶出汞总量、水溶性汞组分分析、脂溶性汞组分分离、生物有效性汞评估、工艺过程汞迁移追踪、废气排放汞浓度监测、废水排放汞浓度测定、固体废物浸出毒性汞值、原料杂质汞筛查、中间产物汞累积量跟踪、成品残留汞限值验证
冶金级工业硅锭、太阳能级多晶硅棒、电子级单晶硅片、硅铝合金锭块、有机硅单体合成料液、硅橡胶基础聚合物、硅油精制中间体、硅酸盐耐火材料坯体、碳化硅复合材料预制体、半导体晶圆切割废料、光伏组件回收硅粉、铸造用硅砂原料包覆层析样件
冷原子吸收光谱法(CV-AAS):通过氯化亚锡还原产生元素态汞蒸气,在253.7nm波长处测定吸光度值。
原子荧光光谱法(AFS):利用高强度空心阴极灯激发气态汞原子产生特征荧光信号进行定量。
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):采用四级杆质量分析器对202Hg同位素进行高灵敏度检测。
热解-金膜富集法:通过高温热解释放样品中的总汞并由金膜捕集器进行预富集处理。
液相色谱-原子荧光联用法(LC-AFS):实现甲基汞与无机汞的形态分离及特异性定量分析。
X射线荧光光谱法(XRF):建立无损快速筛查的定性半定量分析方法。
GB/T14849.4-2020工业硅化学分析方法第4部分:汞含量的测定
ISO17294-2:2016水质-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)应用-第2部分:包括铀同位素在内的选定元素测定
ASTME2941-21采用冷蒸气原子吸收光谱法测定无机原料中总汞的标准试验方法
EN13806:2002食品.痕量元素测定.加压消解后冷蒸气原子吸收光谱法(CV-AAS)测汞
HJ910-2017环境空气气态总汞的测定金膜富集冷原子吸收分光光度法
EPA7473:2016热分解齐化原子吸收光谱法测定固体和液体样品中的总汞
IEC60749-39:2021半导体器件-机械和气候试验方法-第39部分:材料中重金属污染物测量
YS/T1178-2017再生硅原料化学分析方法第3部分:汞量的测定
JISK0222:2013废气中水银的分析方法
DINEN15853:2010环境空气质量-大气沉降物中汞沉积量的测定
全自动测汞仪:集成热解炉与金膜富集系统,配备双光束光学系统实现ppb级检出限。
电感耦合等离子体串联质谱仪(ICP-MS/MS):采用碰撞反应池技术消除多原子离子干扰。
液相色谱-原子荧光联用系统:配置阴离子交换色谱柱实现有机/无机汞形态分离。
微波消解工作站:采用高压密闭容器完成复杂基体样品的快速完全消解。
激光剥蚀进样系统(LA-ICP-MS):实现固体样品表面微区痕量汞分布成像分析。
热重-质谱联用仪(TGA-MS):研究工业硅材料在不同温度下的释汞特性曲线。
场发射扫描电镜-能谱仪(FESEM-EDS):进行微米级含汞夹杂物的形貌表征与元素鉴定。
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试验测试:此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品,实验设计与操作均遵循科学标准,保障测试结果准确且可重复。
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