辐射发射（RE）测试：测量测试仪通过空间传播的电磁骚扰强度，评估其对外部无线设备的干扰风险。
传导发射（CE）测试：测量沿电源线、信号线等电缆传导的电磁骚扰电压或电流，防止其污染公共电网。
静电放电（ESD）抗扰度：模拟人体或物体带电对设备直接或间接放电，检验其敏感电路的抗静电冲击能力。
射频电磁场辐射抗扰度（RS）：将测试仪置于特定强度的射频电磁场中，检验其在该环境下能否正常工作。
电快速瞬变脉冲群（EFT/B）抗扰度：模拟开关、继电器动作产生的瞬态脉冲群干扰，评估电源和信号端口抗扰性。
浪涌（Surge）抗扰度：模拟雷击或大功率设备切换引起的瞬时过电压/电流，检验电源端口的防护能力。
射频场感应的传导骚扰抗扰度（CS）：将射频干扰信号直接耦合到电缆上，评估其对传导干扰的抵抗能力。
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度：模拟电网波动或故障，检验测试仪在供电异常时的运行稳定性。
工频磁场抗扰度：评估测试仪在变压器、大电流线路等产生的工频磁场影响下的性能保持能力。
谐波电流发射：测量测试仪从电网吸取的谐波电流分量，评估其对电网质量的影响是否符合标准限值。
整机系统：涵盖包含光源、光谱传感器、控制单元、显示模块及外壳在内的完整紫外危害测试仪。
电源端口：包括交流（AC）或直流（DC）电源输入接口，是传导发射和抗扰度测试的关键部位。
信号与控制端口：涵盖USB、RS-232、以太网、模拟输出等所有用于数据传输和外部控制的接口。
机箱与外壳：评估设备外壳对内部电磁骚扰的屏蔽效能以及对外部辐射干扰的防护能力。
内部时钟与振荡电路：这些高频电路是主要的辐射发射源，需重点考察其电磁兼容设计。
光电探测器及前置放大器：这些高灵敏度模拟电路极易受电磁干扰，是抗扰度测试的焦点区域。
显示与按键单元：评估液晶屏、指示灯及键盘在电磁干扰下是否会出现显示错误或误触发。
散热风扇与电机：含有电机的部件可能产生宽带噪声，需测试其发射和抗扰度性能。
接地与屏蔽结构：检查设备的安全接地、信号接地及内部屏蔽措施的完整性与有效性。
软件与功能逻辑：在抗扰度试验中，监控软件是否出现死机、数据错误或功能失效等异常状态。
<强>半电波暗室法：在屏蔽室内进行辐射发射和辐射抗扰度测试，利用吸波材料模拟自由空间环境。
<强>传导耦合/去耦网络法：使用网络将骚扰信号注入到电缆或从电缆提取骚扰信号，用于CE和CS测试。
<强>直接耦合注入法：通过电容耦合夹或电流注入探头，将快速瞬变脉冲群等干扰直接施加到线缆上。
<强>耦合板放电法：进行间接静电放电测试时，对水平耦合板或垂直耦合板进行放电以模拟附近物体的放电效应。
<强>连续波扫描法：在规定的频段内，以一定步进对设备施加连续变化的射频干扰，观察其响应。
<强>工频磁场线圈法：使用标准尺寸的感应线圈产生规定强度的工频磁场，覆盖设备受试面进行测试。
<强>电压跌落模拟器法：使用专用仪器精确产生电压暂降、短时中断等电网事件，考验设备供电适应性。
<强>性能判据评估法：根据标准规定的A（性能正常）、B（功能暂时丧失但自恢复）、C（需人工干预）等判据记录结果。
<强>极限值扫描法：逐步增加干扰信号的幅度，直至找到设备功能失效的临界点，确定其抗扰度裕量。
<强>标准符合性比对法：将所有测试结果与IEC 61326-1、GB/T 18268.1等测量控制设备EMC标准限值进行严格比对。
<强>EMI接收机/频谱分析仪：核心测量设备，用于精确测量辐射和传导发射的幅值与频率。
<强>功率放大器及信号发生器：用于产生抗扰度测试所需的高强度、特定调制的射频干扰信号。
<强>电波暗室与屏蔽室：提供纯净、无反射的电磁环境，确保发射和抗扰度测试的准确性与可重复性。
<强>天线系列（双锥、对数周期、喇叭等）：用于辐射发射的接收和辐射抗扰度的场施加，覆盖不同频段。
<强>静电放电模拟器：可产生并施加符合标准波形要求的静电放电脉冲，包括接触放电和空气放电模式。
<强>浪涌模拟器与EFT/B发生器：分别产生标准规定的浪涌冲击波形和快速瞬变脉冲群波形。
<强>传导抗扰度测试系统（CDN，注入探头等）：用于将射频干扰信号有效地耦合到设备的各类电缆端口上。
<强>线路阻抗稳定网络（LISN）：在传导发射测试中，为被测设备提供标准阻抗并隔离电网背景噪声。
<强>工频磁场线圈与电流源：用于产生稳定、均匀的标准工频磁场环境。
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