粒径分布、比表面积测定、晶型分析（α/γ相）、Zeta电位、振实密度、松装密度、灼烧减量、化学纯度（Al₂O₃含量）、重金属残留量（Pb/Cd/As）、氯离子含量、硫酸根离子含量、灼烧残留物、热稳定性（TG-DSC）、表面羟基含量、分散性指数、团聚度评价、透射电镜形貌观察、扫描电镜微观结构分析、X射线衍射物相鉴定、红外光谱官能团表征、紫外可见光吸收特性、磁性测试（铁磁性杂质）、电导率测定、pH值测试（悬浮液）、水分含量（卡尔费休法）、有机包覆层厚度（TGA）、孔径分布（BJH法）、抗压强度（纳米颗粒压实体）、摩擦系数（复合涂层试样）、催化活性评价（CO氧化效率）。
锂电池隔膜涂层材料、高温陶瓷烧结助剂、催化剂载体材料、高分子复合材料增强填料、金属表面耐磨涂层浆料、光学玻璃抛光液原料、医用骨水泥添加剂、阻燃剂功能母粒、涂料抗紫外线添加剂、油墨分散稳定剂、半导体CMP研磨浆料、导热硅脂填充颗粒、吸附剂载体材料（VOCs处理）、燃料电池电解质层原料、3D打印陶瓷粉末原料、抗菌涂层功能组分、橡胶补强剂前驱体、电子封装胶黏剂填料、太阳能电池背板反射层材料、工业废水处理絮凝剂原料、防弹陶瓷预制体原料、隔热保温气凝胶基材、人工关节表面改性材料、柔性显示基板硬化涂层原料、核废料固化基体材料、航空航天耐高温涂料组分、汽车尾气净化催化剂载体材料。
激光粒度分析法（ISO13320）通过动态光散射原理测定粒径分布；BET氮气吸附法（GB/T19587）计算比表面积与孔径参数；X射线衍射仪（XRD）采用Rietveld精修法定量α/γ相比例；透射电子显微镜（TEM）在200kV加速电压下获取纳米颗粒形貌与晶格条纹；Zeta电位分析仪通过电泳光散射技术评估悬浮液稳定性；热重-差示扫描量热联用仪（TG-DSC）同步分析热分解特性与相变温度；电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）定量痕量金属杂质；傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）识别表面修饰基团类型；紫外可见分光光度计测定特定波长吸光度推算禁带宽度；四探针电阻率测试仪测量压片试样的体积电导率。
GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》
GB/T13390-2008《金属粉末振实密度的测定》
GB/T5162-2021《金属粉末振实密度测试方法》
ISO13320:2009《粒度分析-激光衍射法》
ISO15901-2:2006《压汞法和气体吸附法测定孔隙率及孔径分布》
ASTME1941-10(2016)《热重分析法测定碳酸盐含量的标准试验方法》
JISR1626:1995《精细陶瓷粉末粒度分布的测定方法》
ISO14703:2016《精细陶瓷(高级陶瓷,高技术陶瓷)-陶瓷粉末粒度分布的测定》
GB/T23413-2009《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定X射线衍射线宽化法》
ASTMD4318-17《土壤液限塑限和塑性指数的标准试验方法》（用于分散性评价）。
马尔文激光粒度仪NanoZS系列实现0.3nm-10μm动态粒径分析；麦克ASAP2460比表面及孔隙度分析仪完成BET比表面积与孔径分布测试；日本理学SmartLabX射线衍射仪配备高温附件进行原位晶型转变研究；FEITecnaiG2F20场发射透射电镜提供亚埃级分辨率成像；安东帕SurPASS3电化学工作站测量Zeta电位与流变特性；梅特勒TGA/DSC3+同步热分析仪实现0.1μg级质量变化监测；珀金埃尔默NexION350DICP-MS检出限达ppt级元素分析；布鲁克TensorII红外光谱仪配置ATR附件进行表面化学表征；岛津UV-3600iPlus紫外可见近红外分光光度计支持190-3300nm全波段扫描；普林斯顿VersaSTAT4电化学工作站完成阻抗谱与伏安特性测试。
沟通检测需求：为精准把握客户需求，我们会仔细审核申请内容，与客户深入交流，精准识别样品类型、明确测试要求，全面收集相关信息，确保无遗漏。
签订协议：根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节，为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。
样品前处理：收到样品后，开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员，科学严谨对待每个细节，保证前处理规范准确。
试验测试：此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品，实验设计与操作均遵循科学标准，保障测试结果准确且可重复。
出具报告：测试结束立即生成详尽检测报告，经严格审核确保结果可靠准确，审核通过后交付客户。
我们秉持严谨踏实的态度，提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯，严格遵守保密协议，保障客户满意度与信任度。
