原子力显微镜(AFM)检测需要注意些什么?检测标准有哪些?费用是多少?中析检测研究所实验室可依据相关标准制定试验方案。对块体/薄膜、粉末、液体等样品进行检测分析。并出具严谨公正的检测报告。
样品的表面形貌、厚度、粗糙度以相图测试，厚度、粗糙度需进一步处理数据得到，相图一般在Tapping模式下测试。
样品状态：块体/薄膜、粉末、液体;
块体/薄膜样品：长宽要求5-30mm，厚度要求1-10mm，表面粗糙度不超过10μm，请务必说明并标记测试面;
粉末样品：至少提供20mg;务必说明制样条件(制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间);
液体样品：至少提供1mL;务必说明制样条件(是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间)。
AFM拍摄范围一般是多大?不像SEM、TEM或者金相那样，测试时规定倍数要求，AFM一般要告知扫描范围，常规是1*1μm到10*10μm;范围过小，分辨率可能达不到，范围过大，可能可能测不出来较好的图像，而且会增加扫描时间。
GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法
GB/T 32262-2015 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法
EJ/T 20176-2018 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法
ASTM E2859-11(2017) 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
JIS R1683-2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
1、评定产品质量的好坏;
2、判断产品质量等级，即缺陷严重程度;
3、对工艺流程进行检验和工序质量的监督;
4.对质量数据进行搜集统计与分析，以便为质量改进与质量管理活动的开展奠定基础;
5.引入仲裁检验判断质量事故责任。
1.报告中没有“研究测试专用章”和公章，报告没有防伪二维码无效;
2.复制的报告不复盖“研究测试专用章”或者公章无效;
3.报告没有主检，审查，审批人员签名无效;
4.涂改报告无效的;
5.检测报告如有异议，应当在收到报告后15日内提出，逾期不予受理;
