载流子迁移率检测

  发布时间:2021-07-12 15:37:39

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载流子迁移率检测

检测项目:

迁移率检测等。

适用范围

金属金合金材料、半导体材料、合成材料、液体、电解液等

相关检测标准

GB/T 14146-2021 硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法

GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法

GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

68-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法

GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法

GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

相关介绍

迁移率反映了半导体中载流子的输运能力,即在外加电场下载流子能够获得的平均迁移速度。迁移率是半导体的一个很重要性质,影响着半导体微电子器件的很多电学性能比如导通电流,开关比,响应速度等。

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效,报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议,应于收到报告之日起十五日内提出,逾期不予受理;

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