导电薄膜检测

薄膜检测   发布时间:2022-01-24 14:37:15

导电薄膜检测什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?费用是多少?中析检测研究所实验室可根据GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范等相关标准制定试验方案。对导电薄膜检测的光学性能、导电性能、外观质量、膜层牢固度等项目进行检测分析。并出具严谨公正的导电薄膜检测报告。

导电薄膜检测

检测项目

光学性能、导电性能、外观质量、膜层牢固度、附着力、摩擦系数、环境适应性、耐低温性、耐湿热性、耐盐雾性等。

适用范围

半绝缘多晶硅薄膜、氧化硅薄膜、氮化硅薄膜、聚脂薄膜、抗静电薄膜、防锈薄膜、热收缩薄膜、易开封薄膜等。

相关检测标准

GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范

IEC 62951-1-2017 半导体器件. 柔性和可伸缩半导体器件. 第1部分: 柔性基板上导电薄膜的拉伸试验方法

NF C96-050-22-2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法

BS EN 62047-22-2014 半导体器件. 微型机电装置. 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法

KS C IEC 61249-5-1-2003 连接结构用材料.第5部分:带和不带涂层的导电箔和薄膜的分规范.第1节:铜箔(用于生产铜涂覆基材)

KS C IEC 61249-5-4-2003 内部连接结构用材料.第5部分:有或无涂层的导电箔和导电薄膜分规范.第4节:导电墨水

ASTM D5904-2002(2009) 用紫外线、过硫酸盐氧化物和薄膜导电率检测法测定水中总含碳量、有机碳和无机碳的标准试验方法

ASTM D5904-2002 用紫外线、过硫酸盐氧化物和薄膜导电率检测法测定水中总含碳量、有机碳和无机碳的标准试验方法

NF C93-748-1998 互连结构用材料.第8部分:不导电薄膜和涂层用分规范集.第8节:暂时性聚合物涂层

DIN EN 61249-8-8-1998 互连结构用材料.第8部分:非导电薄膜和涂层分规范集.第8节:非永久性聚合物涂层

检测报告注意事项

1、报告无“研究测试专用章”或公章无效,报告无防伪二维码无效;

2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;

3、报告无主检、审核、批准人签字无效;

4、报告涂改无效;

5、对检测报告若有异议,应于收到报告之日起十五日内提出,逾期不予受理;

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