检测项目
氧化钨材料质量评价体系包含基础物化指标与功能性参数两大类别：
- 化学成分分析：总钨含量测定（WO3≥99.95%）、杂质元素（Fe、Mo、Ca等）含量检测
- 物理性能测试：粒度分布（D50/D90）、比表面积（BET法）、振实密度
- 晶体结构表征：晶型鉴别（单斜相/四方相）、结晶度计算
- 应用性能测试：光催化活性（亚甲基蓝降解率）、电化学性能（锂离子扩散系数）
检测范围
| 样品形态 | 典型应用领域 | 特殊处理要求 |
|---|
| 纳米粉末 | 催化剂载体 | 惰性气氛保存 |
| 薄膜材料 | 光电传感器 | 表面清洁处理 |
| 块体陶瓷 | 高温部件 | 断面研磨抛光 |
| 复合涂层 | 防腐材料 | 界面分离处理 |
|
检测方法
- X射线荧光光谱法（XRF）
依据GB/T 16597-2019标准测定主量元素含量：采用Rh靶X射线管激发样品原子产生特征X射线，通过波长色散系统分光后由流气正比计数器接收信号。
- 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）
执行ISO 11885:2007标准分析痕量杂质：样品经氢氟酸-硝酸混合酸微波消解后形成澄清溶液，通过雾化器导入等离子体炬进行原子化激发。
- X射线衍射分析法（XRD）
参照JCPDS卡片库进行物相鉴定：使用Cu Kα辐射源（λ=1.5406Å），扫描角度范围10°-80°，步长0.02°，通过Rietveld精修计算晶胞参数。
- 激光粒度分析法（LPSA）
依据ISO 13320:2020标准测试粒径分布：采用米氏散射理论计算颗粒尺寸，需预先超声分散处理30分钟确保颗粒解团聚。
- 程序升温还原法（TPR）
根据ASTM D4643标准评估还原特性：在5%H2/Ar混合气中按10℃/min升温至800℃，通过热导检测器记录耗氢曲线。
检测仪器
- 同步热分析仪（STA）
- TGA-DSC联用系统可同步测定材料在25-1500℃范围内的质量变化与热流信号，分辨率达0.1μg。
- 场发射扫描电镜（FE-SEM）
- 配备EDS能谱仪实现微区形貌观察与元素面分布分析，分辨率≤1.0nm@15kV。
# XRD原始数据示例
2Theta Intensity
10.25 356
10.50 402
10.75 567
...
23.15 12034
23.40 14327
23.65 15894
氧化物检测
发布时间：2025-05-13 15:37:28
