AlN材料检测

  发布时间:2025-05-13 15:45:06

检测项目

AlN材料质量评价体系包含四大核心检测模块:

  • 化学成分分析:测定Al/N摩尔比(理论值1:1)、金属杂质(Fe、Si、O等)含量及碳残留量
  • 晶体结构表征:六方纤锌矿结构完整度、晶格常数(a=3.11Å,c=4.98Å)、结晶度指数及位错密度
  • 热学性能测试:热导率(170-230 W/m·K)、热膨胀系数(4.5×10-6/K)、比热容及热稳定性
  • 微观形貌观测:晶粒尺寸分布(0.5-10μm)、孔隙率(<3%)、表面粗糙度(Ra≤0.1μm)及界面结合状态

检测范围

材料形态应用领域关键指标要求
单晶基板LED外延生长位错密度<104/cm²
多晶陶瓷功率模块封装热导率≥180 W/m·K
纳米粉末导热填料粒径D50≤500nm
CVD薄膜声表面波器件厚度公差±5%
复合材料航空航天部件三点抗弯强度≥400MPa

检测方法

  1. X射线荧光光谱法(XRF)

    依据GB/T 16597-2019标准,采用波长色散型XRF测定Al/N元素比及杂质含量。测试前需将样品研磨至200目以下并压制成φ32mm标准样片。

  2. X射线衍射法(XRD)

    执行JIS R 1670:2007测试规程,使用Cu-Kα辐射源(λ=1.5406Å),扫描范围20°-80°(2θ),步长0.02°,通过Rietveld精修计算晶胞参数。

  3. 激光闪射法(LFA)

    按ASTM E1461-13标准测量热扩散系数,样品加工为φ12.7mm×1mm圆片,测试温度范围25-300℃,氩气保护环境。

  4. 扫描电镜分析(SEM)

    依据ISO 16700:2016进行表面形貌观测,加速电压15kV时获得最佳衬度比。配合能谱仪(EDS)实现微区成分分析。

  5. 阿基米德法密度测定

    采用GB/T 25995-2010标准方法,使用分析天平(精度0.0001g)测量去离子水介质中的表观密度。

检测仪器

高分辨透射电镜(HRTEM)
JEOL JEM-ARM300F配备球差校正器,点分辨率达0.08nm,用于观察晶格缺陷及界面原子排列。
同步热分析仪(STA)
Netzsch STA 449 F5 Jupiter®同步实现TG-DSC测量,温度精度±0.1℃,可检测材料氧化起始温度。
纳米压痕仪
Keysight G200配备Berkovich压头,最大载荷500mN,分辨率0.1nN,测定硬度及弹性模量。
傅里叶红外光谱仪(FTIR)
Tensor II型配置漫反射附件,光谱范围4000-400cm-1,分辨率4cm-1,用于表征表面官能团。
超声波探伤仪
Olympus EPOCH 650配备10MHz聚焦探头,可检出材料内部≥50μm的裂纹缺陷

检测流程

沟通检测需求:为精准把握客户需求,我们会仔细审核申请内容,与客户深入交流,精准识别样品类型、明确测试要求,全面收集相关信息,确保无遗漏。

签订协议:根据沟通确定的检测需求及商定的服务细节,为客户定制包含委托书及保密协议的个性化协议。后续检测严格依协议执行。

样品前处理:收到样品后,开展样品预处理、制样及标准溶液制备等前处理工作。凭借先进仪器设备和专业技术人员,科学严谨对待每个细节,保证前处理规范准确。

试验测试:此为检测核心环节。运用规范实验测试方法精确检测每个样品,实验设计与操作均遵循科学标准,保障测试结果准确且可重复。

出具报告:测试结束立即生成详尽检测报告,经严格审核确保结果可靠准确,审核通过后交付客户。

我们秉持严谨踏实的态度,提供高品质、专业化检测服务。服务全程可追溯,严格遵守保密协议,保障客户满意度与信任度。

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