锗单晶片检测什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?费用是多少?中析检测研究所实验室可依据GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片等相关标准制定试验方案。对导电类型、电阻率、径向电阻率、少数载流子寿命测试等项目进行检测分析。并出具严谨公正的锗单晶片检测报告。
导电类型、电阻率、径向电阻率、少数载流子寿命测试、晶向及晶向偏离度、晶体完整性、几何参数检测、表面质量检测等。
锗单晶片、锗单晶、锗单晶抛光片等。
GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 5238-1995 锗单晶
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
1、报告无“研究测试专用章”或公章无效，报告无防伪二维码无效;
2、复制报告未重新加盖“研究测试专用章”或公章无效;
3、报告无主检、审核、批准人签字无效;
4、报告涂改无效;
5、对检测报告若有异议，应于收到报告之日起十五日内提出，逾期不予受理;
