双向可控硅检测哪里可以做？检测项目有哪些？检测报告办理费用是多少？检测中心拥有多年的双向可控硅检测的技术经验，可根据客户的检测要求制定科学的测试方法，并提供严谨的测试报告，帮助客户了解产品的技术参数。
额定通态电流、反向重复峰值电压、断态重复峰值电压、控制极触发电流、在规定环境温度和散热条件下，允许通过阴极和阳极的电流平均值等。
适用范围：
普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅(GTO)、BTG可控硅、温控可控硅、光控可控硅等。
检测周期：7-15个工作日
推荐项目：指标检测、性能测试、理化指标、成分分析、配方分析等。
DIN EN 60700-1-2016 压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 60143-4-2010 电力系统用串联电容器.第4部分:可控硅控制的的串联电容器
JIS C4402-2010 浮充电用可控硅整流器
KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第2节:双向三极晶体闸流(三极双向可控硅开关元件)、电流最多为100A空白详细规范
KS C 4402-2003 浮动充电可控硅整流器组
IEC 60700-1 Edition 1.1-2003 高压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 61954 Edition 1.1-2003 输电和配电用电力电子装置.静态变量补偿器用可控硅阀的试验
IEC 61954 AMD 1-2003 送电和配电系统用电力电子设备.静态变量补偿器用可控硅阀门的试验.修改件1
KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验
KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验
一种以硅单晶为基本材料的P1N1P2N2四层三端器件，创制于1957年，由于它特性类似于真空闸流管，所以国际上通称为硅晶体闸流管，简称可控硅T。又由于可控硅最初应用于可控整流方面所以又称为硅可控整流元件，简称为可控硅SCR。
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